中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #293733140 を販売中
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ID: 293733140
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2005
Prober, 12"
Process: Wafer Test
Front Opening Unified Pod (FOUP) loader
2005 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLnは、半導体業界に先進的なプローバー技術を提供するプローバーです。このデバイスは、半導体試験およびプローブアプリケーションの高性能要件を満たすように設計されています。マルチプローブヘッドシステムと高度なプロセス制御機能を備えており、高密度、高速、超低電力ICのテストが可能です。TEL P 12 XLNは、11600gの負荷容量と129mmの総移動範囲を備え、高度な試験および高密度ICプロービングに理想的なソリューションを提供します。TOKYO ELECTRON P-12 XLNは、ICデバイスを0。001秒以内にプローブする独自の高速パラメトリックプローバコントローラを備えています。また、光学マルチプレクサが搭載され、これまでにない20MHz速度での高速デバイスのテストをサポートします。このデバイスは、高度な自動プロセス制御(APC)機能も備えており、プローブ上のプローブ条件をプローブ単位で正確に制御することで、テストエンジニアが高い歩留まりを達成することができます。さらに、高効率と高精度を実現する幅広いハイエンド材料処理機能を搭載しています。TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XLNは、業界をリードする消費電力と特性評価機能を備え、さまざまな電圧レベルで動作することができます。また、裏面イオンフライス加工にも対応しているため、デバイスコンポーネントを除去することなく、検査前のプロセスを行うことができます。さらに、このデバイスは、正確なスキュー検出と特性評価のための自動高精度の位相シフト補償システムをサポートしています。TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XLNは、BGA、 QFP、 PLCC、 TSOPなどの幅広いパッケージで動作可能です。包括的な接続オプションにより、さまざまなテストプローブやその他のデバイスと互換性があります。このデバイスには直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスも装備されており、ユーザーはデバイスを簡単に設定および制御することができます。さらに、Proberの5軸動作機能により、最高レベルのハードウェアのカスタマイズが可能です。要するに、P 12 XLNは強力で高度なプローバであり、半導体試験およびプローブ市場の厳しい要求に応えるように設計されています。このデバイスは、高度なプロセス制御、高速パラメトリック機能、マテリアルハンドリング能力、および電力効率を活用することで、高度なテストおよびICプロービングに必要なこれまでにないレベルの精度と性能を提供することができます。
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