中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #293640545 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn proberは、半導体IC生産ラインで使用される汎用性と信頼性の高い計測ツールです。この高度なプローバは、光学検査と電気試験機能を兼ね備えており、デバイスの特性と性能を微細に分析することができます。その高度な自動化装置は、ウェーハの自動ロードとアンロード、デバイスの自動アライメント、および再構成可能なテストパターンの生成を提供します。TEL P 12 XLN proberは、100mm x 100mmのサンプルエリアを提供し、最大ウエハサイズは50mmです。プローバーは、高精度レーザーアライメントシステムと広い光学視野を通じて優れた性能を提供します。高解像度光学系は、デバイスの性能を評価するために使用できる半導体材料の種類や厚さなどのデバイス特性を正確に測定することができます。このプローバは、チップレベルの測定や故障解析など、さまざまな電気試験機能も提供します。TOKYO ELECTRON P-12 XLN proberは、高性能な計測機能により、弱い信号の検出、デバイスの性能評価、誤検出の回避、故障箇所の特定に使用できます。その調整可能なテストパラメータにより、お客様は特定の状況に合わせて結果をカスタマイズし、生産プロセスを最大限に効率化することができます。TEL P-12 XLN proberは、高精度の計測および電気試験機能に加えて、最高の信頼性を実現するよう設計されています。高度な熱制御ユニットは常に正確な結果を保証し、高度なネットワーク機能により、中央制御装置から遠隔で安全に操作できます。P 12 XLN proberはまた、高スループットのスループット・レートのために設計されており、お客様はテスト機能を最大限に活用できます。TOKYO ELECTRON P-12XLn proberは、お客様に高精度の検査と電気検査機能を提供する信頼性の高い多目的測定ツールです。高度なオートメーションツールは高精度の結果を保証しますが、高度な熱およびネットワーク機能により、リモートで、安全に、そしてダウンタイムを最小限に抑えることができます。TOKYO ELECTRON P 12 XLN proberは、ハイエンド計測、故障解析、調整可能なテストパラメータにより、IC生産ラインに最適です。