中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #293633967 を販売中

TEL （TOKYO ELECTRON） TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn+proberは、半導体試験用に設計された高効率、次世代プローブテスターです。この装置は、複数の表面でウェーハを効率的かつ正確にテストし、プログラムカスタマイズを含むさまざまなテストプログラムとサポートサービスを提供します。このシステムは、さまざまな電気信号を自動的に識別し、測定および試験結果の機能を完全に補完することができます。単位の中心はproberです。サンプルの電気信号を収集、転送、分析するプロセスを自動化するために設計されています。これは、物理プローブと信号キャリアの2つの異なる部分で構成されています。物理プローブは、ウェーハの表面に接触する12,500以上の別々のピンの配列で構成されています。信号は、信号が検出される電界と小さなチップで構成される信号キャリアに転送されます。このマシンには、自動データ収集ツールとユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスを備えたコンピュータが含まれています。業界標準のプログラマブルオートメーションコントローラと互換性があり、ユーザーは個々のニーズに応じて資産をカスタマイズできます。このモデルは、データの視覚化や自動レポート作成など、欠陥のあるボードや一般的な表示オプションを検出する機能を備えています。また、グラフィカルおよび表形式のデータ解析と幅広いテスト構成にも対応しています。TEL P12XLN+システムは、特殊な粘着テープとテストセルも提供します。特殊な粘着テープは、基板にデバイスを接着し、電気信号を測定するための媒体として機能することができます。プローバーは、基板と回路テスター、サンプルボード、プローブカード、または特殊テープに付着できる他のデバイス間の電気接触を効果的に測定します。また、ウェーハテスト、ウェーハソート、デバイス評価などのアプリケーション向けに設計されています。テストの効率を最大化し、データ取得時間を最小限に抑え、エラーを低減するために開発されました。完全に自動化されたソフトウェアおよびハードウェアマシンは、生産または研究アプリケーションのニーズを満たしています。TOKYO ELECTRON P 12 XLN+proberは、幅広い材料や半導体デバイスの特性を検出するための効果的かつ効率的なツールです。