中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #293595840 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn+は、半導体、MEMSなどのデバイス試験・検査用に設計されたプローバです。ウェーハ応力試験、ダイソート、フリップチップ解析など、幅広い機能を備えた高性能機器です。Proberプラットフォームの強化により、デバイス分析はより速く、より正確になりました。TEL P12XLN+は、直径200mmまでのウェーハの試験・検査が可能です。ロードイン/ロードアウトシステムを備えており、最大8個のウエハを一度に取り扱うことができ、ストレスのない自動化と負荷の均一性を提供します。また、新しい高感度CCD顕微鏡などの高度な光学系も搭載しており、ピクセルレベルまでの定量分析が可能です。このマシンはフェーズドアレイレーザーヘッドを備えており、デバイス機能をマッピングするためのステッピングモーターとレーザーパワーのフルレンジを提供します。これにより、デバイスの要件を満たす速度と精度をスキャンできます。また、新しい測定ヘッドを備えており、電気、形状、地形、レーザー誘導蛍光マッピングなどのさまざまなウェハマッピング技術を提供します。新しい検査および試験ユニットは、優れた性能だけでなく、手頃な価格を提供します。それはユーザーフレンドリーであり、単一のオペレータによって容易に作動させることができます。最新バージョンには、インストゥルメントのセットアップと測定操作を通じてユーザーをガイドする強力なWindowsグラフィカルユーザーインターフェイスが含まれています。TOKYO ELECTRON P 12 XLN+の新しいハードウェアおよびソフトウェア設計は、優れた性能と信頼性を提供します。このマシンは、デュアルアームプローブハンドラーと複数のプローブヘッドで高速かつ正確に動作し、クリーンでほこりのない環境を提供します。また、大規模なデータセットを収集し、セットアップ時間を短縮して歩留まりの最適化を高めることができます。このマシンは柔軟なアプリケーションを提供し、ユーザーはさまざまなデバイス特性に合わせてカスタマイズすることができます。TOKYO ELECTRON P-12XLn+は、現在の半導体およびMEMSデバイスのテストおよび検査要件の厳しい要件を満たすことができる、高性能で費用対効果の高いプローバです。比類のない速度と精度を提供し、柔軟で効率的なWindowsユーザーインターフェイスを備えており、インストゥルメントのセットアップと操作を1人のオペレータに導くことができます。最先端のハードウェアとソフトウェア設計により、幅広いデバイス分析ニーズに最適なソリューションです。