中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #9254695 を販売中
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ID: 9254695
ヴィンテージ: 2006
Wafer prober
XY Probing accuracy: ±2.5 μm
Z Probing accuracy: ±5.0 μm
Optical system: ASU/BCU-II
2006 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLmは、半導体製造専門のTELが設計・製造したプローバーです。現在市場で入手可能な最も先進的なプローバーの1つです。TEL P12XLMは、マイクロチップなどの半導体デバイスの性能と信頼性をテストするために使用されるように設計されています。電圧、電流、抵抗、静電容量、インダクタンス、ノイズなど、さまざまなプロービング試験と測定が可能です。TOKYO ELECTRON P 12 XLMは独自のプローブヘッド設計により、高い速度と精度を実現しています。4軸の超精密動作システムを搭載しているため、テスト中のデバイス上の最小部品でも正確にプロービングできます。また、特別な振動制御機構を備えており、試験プロセスに干渉する振動を低減することができます。P12XLMは、必要なデータが正確に取得されるように、さまざまなデータ取得モードを備えています。A-curveデータ取得モードでは、複数のプローブポイントを同時に測定でき、B-curveデータ取得モードではデバイスの周波数応答を正確に測定できます。TEL P 12 XLMには、テストプロセスをより簡単かつ効率的にするように設計されたさまざまなソフトウェアパッケージもあります。これらのパッケージには、プローブポイント設定の調整と新しいプローブポイントの定義を可能にするグラフィカルユーザーインターフェイスが含まれています。さらに、ソフトウェアパッケージは、試験結果の詳細な分析と評価を提供するために使用することができます。TOKYO ELECTRON P-12 XLMは、高度な試験能力に加え、過酷な温度や高振動にも耐えられる耐久性に優れています。また、緊急時のシステムの迅速かつ安全なシャットダウンを可能にする緊急電源スイッチが装備されています。P-12XLmは非常に汎用性が高く信頼性の高いプローバーで、半導体業界で最も洗練された試験要件に追いつくように設計されています。TOKYO ELECTRON P12XLMは、精度、スピード、耐久性、使いやすさを兼ね備え、現代の半導体ファブの要求に適しています。
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