中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #9160409 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLmは、試験対象デバイス（DUT）の電気特性を測定するために使用されるプローバまたはデバイスです。TEL P12XLMには、DUTの各種部品を試験するための精密チャック装置とマルチモード測定システムがあります。世界をリードする半導体・FPDメーカーのTELとプローブカード専門メーカーのMYTEC CORPORATIONとのコラボレーションで開発されました。TOKYO ELECTRON P 12 XLMは、ウェーハのサイズや形状に関係なく、ウェーハレベルの試験を行う柔軟性の高いグラファイト加熱ユニットです。また、自動ステージアライメントキャリブレーションマシンも備えており、DUTをチャック上に正確に配置することができます。このツールは、試験装置を設定する際に必要な手作業によるアライメント作業を省略します。また、TEL/TOKYO ELECTRON P12XLMは、-50°C〜300°Cの幅広い試験温度に対応可能です。P 12 XLMは、設定に応じて最大5000 μ mまたはさらに高速な速度を測定できる精密な高速スキャンを使用します。近隣部位の正確な3次元評価や、欠陥、異物、その他の異常などの微細なディテールを可能にします。様々な設定で毎時200サンプル以上の優れたスループットを実現する東京エレクトロンP -12 XLMは、試験時間を最小限に抑えます。性能面では、P-12 XLMは接着試験において優れた精度と分解能を提供します。プローバーの典型的な精度は± 6 μ mで、測定可能範囲は5 μ mです。タイトな条件下でも測定マージンが不要なプローバー機能で信頼性が高い。さらに、高速スキャンにより、正確で信頼性の高い測定と非常に低いサンプル変動が保証されます。全体として、TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XLMは、絶えず変化する製造業の需要のために開発された、費用対効果の高い汎用性の高いプローバです。高精度の機能と幅広い用途により、試験および評価プロセスに最適です。それは確かに信頼できる結果とお金のための大きな価値を提供する強力なデバイスです。