中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #9122509 を販売中

TEL （TOKYO ELECTRON） TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLmは、超小型半導体素子の高精度測定が可能な先進的な半導体ウェーハプローバです。接触抵抗、静電容量、電流および漏れ値、および電気ノイズなどのデバイス特性を正確に読み取るために設計された汎用性の高いツールです。TEL P12XLMには高解像度プロービングヘッドが搭載されており、小さな形状でも各デバイスを正確に調整して測定することができます。このプローバはまた、熱影響係数を最小限に抑えながら正確な測定を保証するために、さまざまな機能を利用しています。TOKYO ELECTRON P 12 XLMは、サンプルデバイスの寸法や種類に合わせて可動式のセル（MFC）ガントリーと、プローバの機能を制御する内蔵コンピュータを備えています。5軸ポジショナーとプローブシステムを使用して、さまざまなサンプルタイプのために設計され、テストポイントをすばやく見つけて接触させます。自動化されたシステムは、手動で介入することなくサンプル交換に対応できるため、大規模なサンプルサイズを超える測定プロセスを高速化できます。7 インチワイドビューLCD操作パネルを使用すると、測定の操作と結果を表示および制御できます。プローバには、測定精度を検証するための標準校正ボードと、誘電体の層、絶縁材、窒化ケイ素などの測定困難なサンプルを校正するための誘電体校正シートが含まれています。大型ワーキングエリアや、自動プローブ回収用の接触断層検出（CFD）など、さまざまな安全機能を備えています。TEL P-12XLmには、マーケティング用途で効率的に結果と歩留まりデータを制御するためのPROBE Managerや、結果を分析し、包括的な歩留まりレポートを作成するためのSPADEソフトウェアなど、いくつかのソフトウェアオプションも含まれています。P 12 XLMは、半導体デバイス試験、信頼性試験、デバイス特性評価、デバイス工学など、幅広い量産アプリケーションで使用される強力なツールです。最新のテクノロジーを使用して、リスクと時間のかかる操作を削減し、ユーザーがテスト活動から最大限の効率を得ることができるように設計されています。さまざまなプロセスにおいて、最高の精度、安定性、結果の再現性を提供し、信頼性の高い堅牢な半導体テストツールとなっています。