中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #293807102 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLmは、集積回路（IC）やデバイスの解析用に設計されたプローバです。高いスループットが可能で、精密プロービングとプロービング歩留まりの両方で優れた性能を発揮します。このプローバは、半導体デバイス試験に不可欠な高精度プロービングと高速スループットの組み合わせを提供します。TEL P12XLMは、非常に狭くて密集したパッド用の4ピンプロービング、非常に大きなボンディングパッド用の光学プロービング、大容量の試験アプリケーション向けの光学プロービング、非常に低いピン数のコンポーネントのテスト用の高精度スルーホールプロービングなど、幅広いプロービングモードで最高の精度を提供します。また、幅広い自動テストパターンをサポートし、スループットを向上させ、手動プロービングに要する時間を短縮します。TOKYO ELECTRON P 12 XLMは、幅広い用途向けに設計されています。半導体デバイスの生産試験や、新しいICや部品の開発に最適です。電気特性、タイミングパラメータ、その他のパラメータなど、デバイスのさまざまな特性を測定するために使用できます。TOKYO ELECTRON P-12 XLMは、高度な部品とプロセスを使用して、超高精度で製造されています。それは信頼性が高く、堅牢で、業界をリードする平均故障時間は20万時間です。Proberは、摩擦の少ないプローブデリバリーシステムを備えており、一貫性のあるプローブコンタクトと信頼性の高いデータキャプチャを保証します。P-12 XLMは、ユーザーフレンドリーなプログラム可能な環境と直感的なソフトウェアインターフェイスを備えており、ユーザーは自動テストを迅速に構成および展開できます。このプローバは複数のコンピューティングアーキテクチャをサポートし、異なるアーキテクチャとハードウェアプラットフォーム間のシームレスな移行を提供します。TEL P 12 XLMは、数多くの半導体業界の規格やプロトコルに準拠しており、多くのICテストシステムと統合することができます。このproberは信頼性および性能のために完全にテストされ、高度の生産のテストの使用のために証明されます。TOKYO ELECTRON P-12XLmは、高い精度のプロービング性能を発揮し、高いスループットを実現します。半導体ICの生産試験および開発に最適なソリューションであり、今日の要件に必要な精度と柔軟性を提供します。