中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #293712729 を販売中

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm
ID: 293712729
ウェーハサイズ: 12"
Wafer probers, 12".
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLm proberは、半導体デバイスの検査、分析、テストに使用される自動軽量プローバです。これは、高度な半導体デバイスのプロービング、特性評価および製造プロセスのために設計されています。このプローバは、より高速なデバイス機能と、より効率的な分析およびテストプロセスを可能にするように設計されています。TEL P12XLMは、高度なイメージング機能を備えた高速CCDカメラ、高精度ウェハステージ、自動ウェハハンドリングを備えています。ワークと環境の両方の温度を正確に制御できる10ゾーン温度制御システムを搭載しています。Proberはデスクトップコントローラを備えており、操作とデータ管理を簡単に行えるだけでなく、ユーザーフレンドリーなグラフィカルインターフェイスも備えています。TOKYO ELECTRON P 12 XLMは、基板の特性をすばやくマッピングできる自動基板マッピングも提供しています。チップ内の欠陥を正確に検出し、基板上に位置を表示できる自動欠陥位置システム(ADLS)を搭載しています。さらに、Analysis Software Package (ASP)を搭載しており、ユーザーはデータを分析してレビューすることができます。P-12XLm proberには、自動チャッククランピングメカニズムやさまざまなアプリケーションに合わせて作られたさまざまなプローブなど、幅広いアクセサリーも付属しています。このプローバは、高解像度の結果を生成することができ、ユーザーは精度と信頼性を維持しながら正確な測定を行うことができます。TEL/TOKYO ELECTRON P12XLM proberは、さまざまな用途向けに設計された非常に汎用性の高いプローバーで、半導体デバイスのテストやプロービングに最適です。高速で高精度な操作が可能で、正確で信頼性の高い結果をユーザーに提供します。半導体デバイスのテスト、プロービング、特性評価アプリケーションに最適です。
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