中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9376095 を販売中
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ID: 9376095
ヴィンテージ: 2002
Prober
Head plate ring size: 645 mm
Air pressure: 0.45 MPa - 0.7 MPa
Main air / Vac hose size: 6Ø
Vacuum: ≤-50 kPa or less
CIF Port
Standard temperature
CPU Type: VIP3A (For 1000K Small Die Test)
SCSI SSD 2.5" or HDD 8G
WAPP Polisher plate
Bridge air blower
Bridge
Wide loader
KLA OCR
Loader control box
Breaker input: 30 A
Ampere interrupt capacity: 35-50 kA
Power supply: 200 V, 50/60 Hz, Single phase
2002 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL Proberは、コンピュータ制御の物理的接触電気試験装置です。これは、-60°Cから125°Cまでの温度で様々なミニチュア電子部品やデバイスの電気特性をテストすることができます。Prober装置全体には、プローバーヘッドアセンブリ、プローブカード、試験治具および装置、モニターおよび制御コンソール、電源、およびデータ収集システムが含まれます。ユニットのコアにはプローバーヘッドアセンブリがあり、プローブカード、試験治具、装置が収納されています。ここで実際のプロービングが行われます。プローブカードは、試験中のデバイスと測定機器との間の電気的接触を提供します。試験治具とデバイスは、試験中のデバイスを保護し、プローブカードのアライメントとセンタリングを可能にします。モニターとコントロールコンソールを使用すると、ユーザーはマシンをセットアップしてインターフェイスを表示できます。これは、ツールの温度、電気テスト、およびパラメータを監視し、制御することができます。電源は資産にエネルギーを供給し、幅広い温度範囲で試験を行うことができます。最後に、データ収集モデルにより、ユーザーは機器のデータを保存、表示、分析することができます。また、統計分析、グラフィカルプロット、ハードウェア/ソフトウェア統合機能も提供します。TEL P12XL Proberは、小型デバイスの電気特性をテストする際に、従来の配線専用アプローチに代わるものです。幅広い温度試験が可能で、セットアップと使用が容易です。TOKYO ELECTRON P 12 XL Proberは、統合された設計と強力なデータ収集システムにより、ミニチュアエレクトロニクスとコンポーネントのテストに最適です。
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