中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9279691 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLは、半導体デバイスの故障解析に特化した高精度プローバです。高度な自動測定プラットフォームを備えており、半導体ウェーハの精密かつ迅速なテストを可能にします。TEL P12XL proberは、高速ブレークスルー・インデックス・システムや、デバイスの故障箇所を正確に測定するための専用のタッチセンスおよびチップセンス・テスト・プローブなど、さまざまな機能と機能を備えています。TOKYO ELECTRON P 12 XLには、超高精度のダイ画像をキャプチャするための高解像度デジタルイメージングシステムがあり、半導体欠陥の詳細な可視性を提供します。さらに、フォースバランス/真空グリップシステムは、汚染を最小限に抑え、テストボードからの制御されたデバイスの除去を保証します。精密プロービング機能に加えて、ウエハパターンファイルビルダーやテストプログラムエディタなどの一連のソフトウェアツールを提供する東京エレクトロンP-12XLは、広範なプログラミングやデータ操作を行うことなく、迅速かつ効率的にテストを設定し、テストを実行することができます。TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XLは、複数のデバイスの同時プロービング、高速フォルトセンシング、歩留まり解析のための金型特性評価ツールを内蔵するなど、多数のフォルト検出・解析機能を備えています。また、セラミック基板、ガラス基板、石英基板など、複数のウェハサイズとタイプに対応しています。耐食性に優れたスチールと銅で構成されたP-12XLは、操作しやすいコントロールと正確さと性能を監視するLEDインジケータを備え、お客様の使い勝手を考慮して設計されています。P-12 XLは、半導体レベルの超精密な故障解析アプリケーションで使用するために設計されています。また、信頼性と有効性のテスト、デバイスの統合と信号フローの分析、安全性と環境基準のテストも可能です。高度な研究開発ラボに最適なTEL P-12 XLは、ユーザーフレンドリーなパッケージで優れた性能、正確性、信頼性を提供します。