中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9220058 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLは、半導体デバイス試験用に設計された先進的なプローバです。高解像度高速レーザー散乱計と安定した高度に調整可能なプローブカードを組み合わせています。この組み合わせにより、接触抵抗や熱性能などの半導体デバイスの電気特性を迅速かつ正確に測定することができます。TEL P12XLのレーザー散乱計は、レーザー光と高倍率光学を組み合わせてデバイスの表面特性を正確に測定します。レーザーの散乱計は融点および接触角、また屈折率および表面の粗さを測定することができます。また、光学機器により、デバイス表面の微細な回路トレースやはんだバンプなどの極めて小さな特徴を測定することができます。P12XLの内蔵プローブカードは、最高の安定性と精度を実現するように設計されています。このカードは、調整可能なプローブの高さと接触力の広い範囲を提供し、正確かつ再現可能な測定を可能にします。このカードにはスリップシステムもあり、熱や機械的衝撃による不正確さを排除するのに役立ちます。これには、垂直方向と水平方向の両方のフォースセンサーと、温度モニターが内蔵されているため、デバイスのテスト条件が一定に保たれます。P 12 XLは、洗練されたソフトウェアインターフェイスを使用して、デバイスのパフォーマンスを迅速かつ正確に測定します。このソフトウェアを使用すると、接触力、温度、光学倍率などのデバイス試験パラメータを素早く設定できます。このソフトウェアはまた、絶対接触抵抗や期待値からの偏差など、デバイス測定に正確なフィードバックを提供します。また、東京エレクトロンP -12 XLには、強力なユニットモニターと管理ユニットが装備されています。このユニットは、プローバと接続されたデバイスの状態に関するリアルタイム情報を提供し、ユーザーがテストを管理して結果を保存することができます。これにより、結果が正確かつ再現可能になります。TEL P-12XLは、正確で再現性の高い半導体デバイス試験用に設計された高度で信頼性の高いプローバです。高解像度レーザー散乱計と安定した高度に調整可能なプローブカードを組み合わせることで、半導体デバイスの電気特性を迅速かつ正確に測定できます。TOKYO ELECTRON P-12XLの洗練されたソフトウェアインターフェースにより、デバイスのテスト、測定結果、および再現性のある結果の保存を迅速かつ簡単に行うことができます。このユニットには、高度なマシンモニターと管理ユニットも装備されており、結果が正確かつ一貫していることを保証します。