中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9161958 を販売中
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ID: 9161958
ヴィンテージ: 2002
Prober
Loader type: Left
Type (Hot / Cold): Hot
VIP: No
147CON: Yes (No HDD)
MR-MC01: Yes
316: Yes
PST-OPT: Yes
PST-STD: Yes
SIO: Yes
GPIB: Yes
FDD: Yes (Damaged)
Signal tower: Yes
Monitor: Yes
Display driver: Yes
Stage X motor: Yes
Driver: Yes
Stage Y motor: Yes
Driver: Yes
Stage Z motor: Yes
Stage theta motor: Yes
Chuck top: Yes
PT Sensor: Yes
Chuck vacuum solenoid : Yes
Sensor: Yes
Chuck camera: Yes
Bridge camera: Yes
Polish pad: No
Head plate inter-lock sensor: Yes
Shutter: Yes
Indexer Z axis motor: Yes
Indexer Z-axis belt: Yes
Cassette unit: Yes
Sub-Chuck top: Yes
Motor: Yes
Up / Down cylinder: Yes
Solenoid: Yes
Pincette (Upper): Yes
Motor: Yes
Driver: Yes
Pincette (Lower): Yes
Motor: Yes
Driver: Yes
Loader vaccum solenoid: Yes
Sensor: Yes
Wafer sensor: Yes
OCR Unit: No
SACC Unit: Yes
Control board: Yes
Cover inter-lock sensor: Yes
Shutter: Yes
Probe-card interface: Yes
Sensor: Yes
Manual switch: Yes
Hot chuck controller: Yes
Manipulator: No
Main power supply: Yes
Main air / Vacuum fitting: Yes
Main regulator unit: Yes
2002 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLは、電子機器の性能試験用に設計された高精度プローバーです。集積回路、コンデンサ、トランジスタ、ダイオード、リレーなどの電子デバイスの信頼性の高い測定を保証するために設計されています。TEL P12XLは小さなフットプリントに収まるサイズで、生産ラインやラボでの使用に適しています。その堅牢な設計は、高いサンプル精度、再現性、信頼性によって補完されています。TOKYO ELECTRON P 12 XLは、さまざまなタスクに最適な機能を提供します。12インチの長い高濃度フラットチャックを搭載しており、より多くのテストポイントに対応できます。プローバーは、高精度で調整可能なXYステージと、カラーモニターを内蔵した高品質の光学顕微鏡で構成されています。40mmまでのサンプルサイズで、各種電子部品のスキャンが可能です。TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XLは、静電容量測定、インピーダンス測定、デバイス特性評価などのテスト機能を提供します。抵抗、静電容量などのパラメータを高精度で測定することができます。さらに、Proberは故障や不良部品を検出するための故障解析を実行することができます。P-12 XLは、過酷な環境条件下でも、再現性と信頼性の高い試験結果を生成することができます。操作が簡単なため、P-12XLにはユーザーフレンドリーなタッチスクリーンインターフェイスが装備されています。また、コンピュータオートメーションも提供しており、ユーザーは簡単にテストプロセスをセットアップして実行することができます。さらに、プローバーには、サンプルを正確に配置して取り扱うことができる統合されたモーションコントロールシステムが組み込まれています。また、東京エレクトロンP-12XLは、業界標準のさまざまな通信および接続プロトコルに準拠しており、他の試験機器や機器と容易に統合することができます。TEL P-12 XLは、電子機器や部品の信頼性の高い試験に最適です。調節可能な速度X-Yステージ、高精度フラットチャック、光学顕微鏡、統合モーションコントロールシステムなどの高度な機能により、さまざまな試験作業に最適です。さらに、ユーザーフレンドリーなインターフェイスとさまざまな通信および接続プロトコルのサポートにより、生産ラインとラボの両方に最適です。
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