中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9142396 を販売中

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL
ID: 9142396
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2002
Automatic wafer prober, 12" Top plate docking as drawing Right open foup loader 12” Gold chuck unit Interface: GPIB / RS232 200VAC, 50/60Hz, Single phase Auto PAD alignment unit Software version: R14 Series WAPP SACC VIP3A CPU 2002 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL Proberは、大容量の半導体デバイス試験用に設計された、自動化された高性能プローバ装置です。これは、マニュアルプローバよりも高い精度と安定性を提供する超精密な自動アライメントステージを備えています。また、オーバーヘッドローダーを内蔵しており、高速サンプル転送と正確な自動アラインメントを可能にします。TEL P12XL Proberは完全に自動化された操作により、人件費を削減し、測定精度を向上させます。TOKYO ELECTRON P 12 XL Proberは、高速ロボットを用いた完全自動化ユニットアーキテクチャにより、正確な自動アライメントとサンプル転送を実現しています。高精度モーションコントロール用の精密X-Yステージと、目視検査用の高解像度光学顕微鏡を備えています。マシンにはオーバーヘッドローダーも内蔵されており、サンプルをある場所から別の場所に素早く転送するために使用されます。P12XL Proberは、大量の半導体デバイス試験に適しています。サンプルの精密な自動アライメントを可能にし、さまざまな半導体デバイスの測定に精密な結果を提供します。このツールはまた、高速サンプル転送を提供し、デバイスのテストに必要な時間を大幅に短縮します。さらに、内蔵の顕微鏡は、測定されたパラメータが正確であることを保証します。このアセットは、高度な解析モジュールを備えており、ユーザーは自分の結果を徹底的に分析することができます。信頼できる性能と正確な試験結果を得るために、P-12 XL Proberはさまざまな先進技術を利用しています。高度なレーザー干渉計、磁気計測器、加速度計、カメラ技術を組み合わせ、極めて精密な測定を実現しています。また、真空チャックとリニアドライブの組み合わせを使用して、滑らかで正確なモーションコントロールを実現しています。このモデルには、デバイス分析プロセスを自動化する専用ソフトウェアも装備されており、テスト結果をすばやく解釈することが容易になります。高度な技術と洗練された機能の組み合わせにより、P 12 XL Proberは大量の半導体デバイス試験に最適です。高精度のアライメント機能と使いやすいソフトウェアおよび解析モジュールにより、デバイス試験アプリケーションにとって信頼性が高く効果的なソリューションとなります。
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