中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9131742 を販売中
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ID: 9131742
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2001
Prober, 12”
Gold
Hot
GP-IB Cable
Head plate
Gas-spring on headplate
Standard monitor
WAPP-20K with brush
Card holder
Printer
Manipulator
Wafer table
OCR: KLA P8-Zoom
SACC: 200/300
Air and vacuum: Fitting
Monitor type: Standard
Boards:
147-CON
VIP3A
GP-IB
TVB9003-1316
PST-STD
PST-OPT
Loader driver
SIO
Frequency:
Standard: 50/60 Hz
Metric: 50/60 Hz
Single phase
200 V
2001 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLは、半導体チップやデバイスの効率的なテストを目的とした全自動プローバです。幅広い半導体デバイスの種類やサイズの試験に対応することが可能で、小型から標準、大径まで幅広いウェハサイズに対応できるように設計されています。ProberにはAdvanced Automated Alignment System (AAS)があり、デバイスを正確に整列させて素早く整列させることができます。さらに、このデバイスは精密なアライメントメカニズムを備えており、各プロービング位置を正確かつ迅速に測定および校正することができます。プローバはまた、高度な温度センサとコンピュータ制御要素を使用して、テスト中に温度を正確かつ一貫して測定および校正することができます。そのため、安定したテスト条件を達成し、デバッグサイクルの期間を短縮することができます。TEL P12XLはマルチサイトテスト機能も備えています。各ポジショニングサイトには、4つのプローブが用意されており、90度の間隔で配置されています。これにより、4つのサイトの同時テストが可能となり、オペレーションの重複やスループットの向上が可能になります。さらに、このデバイスの自動校正機能を使用して、温度や環境の違いに関係なく安定した測定を行うことができます。Proberには、欠陥のある連絡先を認識し、問題のあるサイトでプロセスを自動的に停止する自動接触チェック機能も含まれています。これにより、ウェーハおよびデバイスの正確かつ効率的なテストが保証されます。包括的でユーザーフレンドリーなソフトウェアパッケージが利用可能で、ユーザーはテスト環境をカスタマイズし、履歴データを保持およびレビューし、テスト結果を比較および最適化できます。TOKYO ELECTRON P 12 XL proberは、さまざまな半導体チップおよびデバイス向けに信頼性が高く、費用対効果が高く、自動化されたテストソリューションを提供します。温度とデバイスのパラメータを正確かつ迅速かつ一貫して測定および校正することができ、マルチサイトテスト機能を提供し、精度とスループットを向上させるための自動接触チェックシステムを備えています。
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