中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9089358 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL Proberは、様々な分野の研究開発のために設計された高度な多機能材料測定装置です。このシステムは、薄膜試料を高精度に測定することができるだけでなく、研究を支援するためのユニークな機能の配列を提供することができます。TEL P12XLには、精度と再現性を確保するための高解像度イメージングユニットが搭載されています。プローブヘッド、マイクロシェイプセンサー、分光計で構成され、微量元素組成や屈折率など薄膜試料の異なる物性を検出します。TOKYO ELECTRON P 12 XLは、マルチステージターゲットトラッキング機構を採用し、プローブヘッドをマイクロ定義の測定領域内に正確に配置します。プローブヘッドは、表面粗さ評価、表面平均粗さ測定、X線厚さ測定、X線反射測定、X線回折解析、表面分析など、幅広い薄膜測定用に設計されています。TEL/TOKYO ELECTRON P12XLは、高精度イメージングツールに加え、強力な多段応力検出センサーを搭載しています。このアセットは、材料表面の加工または応力によって引き起こされるひずみを検出し、薄膜サンプルで最大10〜8ミクロンのPVヒステリシス精度で測定できます。応力検出センサは、表面応力動作における幅広い応用範囲のための様々な表面材料で準備されています。東京電子P-12XLでは、測定時に高い安定性と再現性を提供する特別設計の材料プローブも使用しています。このプローブは、表面膨張や収縮などのサンプルの変形や、対象領域のサンプルの部分変形を検出することができます。P-12XLはまた、高精度の温度コントローラを備えており、広い温度範囲で正確な測定結果を保証します。これらの機能はすべて、P-12 XLの高性能測定と優れたデータ再現性を提供するために組み合わされています。TEL P 12 XLは、高温イベントだけでなく、長期および短期の両方の測定を処理することができます。このモデルで取得したすべての測定は、直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスで処理され、ユーザーはデータの解釈を簡単に理解できます。この機器には標準材料のライブラリも含まれており、ユーザーはサンプルからの関連データと受け入れられたベンチマークデータを簡単に比較することができます。結論として、TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XL Proberは、研究開発用に設計されたハイエンド材料測定システムです。薄膜サンプルの精度測定が可能で、高解像度イメージングマシン、多段ターゲットトラッキング機構、応力検出センサ、高精度温度コントローラなど、さまざまな機能を備えています。標準材料の直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスとライブラリにより、ユーザーはデータと受け入れられたベンチマークをすばやく簡単に比較できます。