中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #293816009 を販売中

ID: 293816009
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2003
Prober, 12" Dual load port (2) Front Opening Unified Pods (FOUP) (2) Pincettes Low Temperature Interface (LTI) unit CR385PH High Temperature Thermal Device (HTTD) unit D250 Chiller No temperature controller No 147-con board No loader upper box 2003 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL Proberは、半導体ウェハレベルで正確かつ再現性のある試験を提供する、集積回路向けの高度な電気試験プラットフォームです。ピン型半導体試験ソケットの業界標準仕様と高い互換性を持つ高度なレイアウトを備えています。それは電気試験の条件の広い範囲を支えるように設計されています。Proberは広い作業エリアを備えており、広範囲のウェーハサイズに対応できる広大なスペースを確保し、さまざまな実験をサポートします。また、電流-電圧特性の測定や静電容量-電圧測定など、幅広い試験機能を備えています。その他の特徴としては、温度変化に対する感受性の高さ、再現性の高さ、調節可能なサンプルサイズ、優れた直線性、および10ミクロン程度のサンプルサイズを正確に測定する能力などがあります。TEL P12XLにはデジタル信号プロセッサ(DSP)が内蔵されており、正確な周波数測定とデータの自動スケーリングが可能です。また、テストヘッドの加速移動用の高速モータを搭載し、安全インターロックを内蔵しています。このプローバは、インダクタ、抵抗、コンデンサなどのマウントされた受動部品、およびその他の小型信号半導体デバイスの特性を測定することもできます。TOKYO ELECTRON P 12 XLは、簡単なセットアップと簡単なメンテナンスを可能にします。ユーザーフレンドリーでメニュー駆動のユーザーインターフェイスを使用しており、堅牢なグラフ作成とテスト機能、さまざまなコントロールを備えています。さまざまなパラメータを調整して、テスト結果をデバイスメーカーの特定のニーズに合わせてカスタマイズできます。さらに、テストセルヒーターを内蔵しており、周囲温度の低い温度下での凝縮を防止します。TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XL proberは非常に便利で汎用性の高い機器であり、幅広い半導体および集積回路の正確で再現性の高いテストを提供します。その高度な機能により、堅牢なグラフ処理とデータ処理機能を備えた信頼性の高いテスト環境と、さまざまなサンプルの電気特性を迅速かつ正確に測定する能力が保証されます。
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