中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #293594867 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLは、製造テストベンチに使用される特殊半導体プローブです。TEL P12XLは、狭いスペースでの使用に最適な小型軽量フットプリントを備えています。このプローブは、デバイスパラメータ測定、機能テスト、特性評価の分析など、幅広い試験ニーズに対応できるように設計されています。TOKYO ELECTRON P 12 XLは、様々な半導体デバイスの高精度、正確な直線性、高速試験で測定することができます。TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XLはパラメトリック試験や機能試験など、幅広い測定・解析が可能です。高度な台形分散プローブヘッドを搭載し、接触を容易にするとともに、動的補償モジュールを備えており、正確な測定が可能です。また、このプローブにはメモリ測定モードが搭載されており、ウェーハとダイ間で連続的および/または反復的な測定が可能です。P 12 XLにはタッチスクリーンの多機能ディスプレイがあり、ユーザーは取得したデータを表示および分析することができます。このディスプレイは、半導体サンプルの実際のサイズを表示することもでき、各テスト結果の違いを容易に理解することができます。このプローブには、スマートオートプローブ機能、フレキシブルモードスイッチング、キャリブレーション/感度設定モード、および幅広いプローブチップなど、さまざまなユーザーフレンドリーな機能があります。これらの機能はすべて、TOKYO ELECTRON P-12 XLを生産試験に最適なオプションにするのに役立ちます。TOKYO ELECTRON P-12XLには、高精度な結果を保証するアラームシステムが含まれています。測定エラーが発生した場合にアラームがトリガーされ、高速メモリ測定モードで誤ったデータがすぐに検出されます。さらに、プローブには信頼性と再現性の高い結果を得るための統計データと、プローブ状態を継続的に監視および調整する統合キャリブレーションモニターが装備されています。結論として、TOKYO ELECTRON P12XLは、生産試験用に特別に設計されたハイエンドの専門プローバです。高精度で正確な直線性、正確な測定のための動的補償モジュール、超高サンプルレート加速のための高速メモリ測定モード、スマート自動プロービング機能、および柔軟なモードスイッチングが装備されています。そのアラームとキャリブレーションモニターは、生産テストの生産性と精度を向上させます。