中古 TEL / TOKYO ELECTRON Cellesta-I #9261580 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON Cellesta-Iは、集積回路の性能をテストするために使用されるプローバです。それは速度および正確さのために造られ、複雑さのさまざまなレベルの装置をテストするのに使用することができます。このプローバは、電流測定用の低コストのスキャンEMプローブと、小さな信号を測定できる高精度の4ポイントプローブを備えています。プローバーはまた、低接触抵抗試験のための高速、大容量の電気機械アームを備えています。TEL Cellesta-Iは、小型集積回路（MICS）およびICアセンブリの高生産性と正確な試験能力を備えています。Proberはデジタル、アナログ、RF、光学およびHVIC設計を含むMICSの広い範囲をテストできます。プローバは、電流測定、パルスシェーピング、負荷/プルダウン試験、タイミング測定など、さまざまなテストを実行するために使用されます。プローバは高速で大容量の駆動システムを備えており、迅速な検査と正確なテストパラメータを提供します。また、さまざまな接点で低抵抗の測定を行うことができる特別な4ポイントプローブを備えています。また、Proberには高度なユーザーインターフェイスがあり、シンプルで直感的な操作が可能です。Proberをセットアップして操作することで、結果を迅速にテストおよび分析でき、問題のトラブルシューティングをすばやく行うことができます。Proberは、すべてのテスト結果を保存し、データの簡単なコンパイルと要約を可能にする統合データベースと高度な分析機能を備えています。また、Proberにはレポートを自動生成する機能もあり、テストプロセスの制御を強化することができます。また、ソフトウェアパッケージを使用してテストプロセスをカスタマイズおよび自動化し、お客様の要件に対応します。また、Proberは高度な故障解析機能を備えており、テストの誤動作やオープン回路またはショート回路などの故障に関する詳細な情報を生成します。ターゲットとなるデバイスのパフォーマンスと、その連絡先や機能がどのように機能しているかについて、リアルタイムで情報を提供します。故障解析機能は、デバイスのテスト中にデータを収集することもでき、故障の根本原因をよりよく理解することができます。TOKYO ELECTRON CELLESTA-I Proberは、さまざまな複雑さのMICSやICの欠陥や潜在的な設計上の問題を迅速に特定できる、効率的で正確な試験ツールです。その高度なテスト機能により、あらゆるテクノロジーラボや組立施設に理想的なテストまたはバーンインステーションです。