中古 TEL / TOKYO ELECTRON 770-933001-000 #9281038 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON 770-933001-000は、トランジスタや集積回路（IC）などの半導体デバイスを測定するプローバです。Proberには、さまざまな半導体テスト手順での使用に適した多くの機能があります。Proberに電圧、流れ、頻度、インピーダンス、容量、抵抗、チャネル数およびデューティサイクルを含む多数の調節可能な変数があります。プローバには、さまざまな信号ジェネレータと、さまざまな入力と出力があります。これらのパラメータにより、ユーザーはプローバの電気特性を制御することができます。Proberは、デバイスとその接続の物理的なレイアウトをマッピングする方法も提供します。また、プローバーには低ノイズ回路とディスプレイがあり、ユーザーはテスト中にデバイスを測定、監視、および調整することができます。このディスプレイを使用して、デバイスとその接続の物理的なレイアウトをマッピングすることもできます。proberにまた多数の安全および環境保護の特徴があります。短絡や衝撃の可能性を保護する高電圧測定回路を備えています。また、熱保護、絶縁電源、自己完結型NISTトレーサブル校正システムも備えています。プローバには、RF、 LAN、 USBなどの接続ポートがあります。ユーザーはこれらのポートを使用して、proberを他のテスト機器に接続できます。ProberにはUSBインターフェイスもあり、Proberのソフトウェア制御を可能にします。これにより、テスト結果のリモート制御、監視、およびロギングが可能になります。Proberに塵および湿気からの保護を提供する耐久アルミニウムハウジングがあります。プローバーは、高精度で再現性の高い小さな部品を測定するように設計されています。プローバは、高周波、低周波、長期安定性など、幅広い性能パラメータを備えています。プローバは低消費電力であり、広範囲の温度および環境条件で動作するように設計されています。TEL 770-933001-000は、さまざまな半導体テストアプリケーションでの使用に適した先進的なプローバです。それに多数の調節可能な変数、信号発電機の範囲、低雑音回路および表示、リモート・コントロールのための相互接続の港およびUSBインターフェイスがあります。また、プローバーは広範囲の温度および環境条件で動作するように設計されています。Proberに耐久アルミニウムハウジングがあり、高精度および再現性の小さい部品を測定するように設計されています。