中古 TEL / TOKYO ELECTRON 20SR #9132520 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON 20SRは、主に半導体集積回路（IC）の試験用に設計された先進的な電気プローバです。デバイス開発および故障解析をサポートする高度なプロービングおよび測定ソリューションの技術ソリューションを提供します。TEL 20SRは、他のプローバーと比較して、小さなフットプリントで高精度で高いスループットを提供します。プローバーには、その汎用性を高めるユニークなオプションとアクセサリーが装備されています。TOKYO ELECTRON 20 SRは、ウェハやパッケージプロービング用途に使用でき、2Dパターニング用の自動顕微鏡装置を備えています。3軸真空チャックステージを搭載し、安全・安心な運転が可能です。さらに、プローバーはTELの高度なプローバー冷却システムによって提供される均一な温度を監視し、維持することができ、長いプロファイリング走行に適しています。Proberは、正確で反復可能で高速なローディングソリューションを備えたロードステーション調整ユニットを提供します。この機能は、位置決め精度が維持されていることを確認しながら、1つのデバイスから別のデバイスに素早く切り替えることができます。20 SRには、IEEE 1149。1およびI/Oピン測定のサポートを含む高度なソフトウェアが付属しています。また、テスト手順を自動化するためのスクリプト言語をサポートし、最新の言語やテストライブラリと互換性があります。TEL/TOKYO ELECTRON 20 SRは、独自の高Si非接触テストマウントを使用した低電圧、低電流、およびレガシーデバイスをサポートします。さらに、プローバにはI/Oピン測定用のXYR/high-siマシンとRF対応デバイス用のRF拡張ツールもあります。ProberにはIEEE 1149。2 Scan Chainテストモード用のモジュールが含まれており、スキャンパターンの生成と測定結果の提供に使用されます。20SRは、標準的なCMOS技術、バイポーラ技術、ASIC、ミックスドシグナル、メモリデバイス、アセットレベル相互接続など、さまざまな種類のデバイスをテストすることができます。Proberは、デジタル化されたデバイスの柔軟なテストオートメーションを提供する高度なモジュラーデジタル入出力モデルを備えています。TOKYO ELECTRON 20SR proberは、半導体集積回路のプロービング、テスト、測定のための高度で強力なツールです。それはいろいろな選択および付属品を提供し、装置の広い範囲を支えることができます。その洗練されたソフトウェアと専用の拡張システムは、その能力をさらに強化し、半導体デバイスのテストと分析のための信頼できるツールにします。