中古 TEL / TOKYO ELECTRON 20SR #293793629 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON 20SRは、ウェハレベル半導体製造における先進パッケージデバイス（APD）およびプローブカードのテストを容易にするために設計された先進的なウェーハプローバです。この先進的なProberは、最新かつ最先端のAPDやその他のデバイスコンポーネントに対応できるコンパクトな設計を備えています。高性能温度制御装置を搭載し、新しいスキャン測定システムを搭載しています。さらに、ロードテーブルの設計が改善され、新しい高解像度の画像表示が特徴です。TEL 20SRは、高度な手順をサポートし、迅速にアプリケーションを変更することができます完全に自動化されたユニットです。その高度な温度制御マシンは、手動調整と校正の必要性を排除し、高精度、再現可能な温度を提供します。統合されたスキャン測定ツールにより、高度なデバイスコンポーネントの測定データ取得と分析を高速化できます。改良されたロードテーブル設計により、ドリフトが少なく、より信頼性の高い試験結果を得ることができます。また、テーブルデザインの改良により、マニュアルセンタリングが不要となり、アライメントのずれによるチルト損傷を最小限に抑えました。TOKYO ELECTRON 20 SRには、高解像度の画像表示が改善され、テスト中の視覚パターン認識が向上します。この機能は、テスト中にパーティクル数やその他の関連する欠陥を追跡する利点を提供します。プローバーには、正確なプログラマブルインデクサと自動レベルウェーハサセプターがあり、テスト用のデバイスの正確な位置決めを可能にします。20 SRは、汎用性の高いテストツールを提供する人間工学に基づいたユーザーフレンドリーなデバイスです。コンピュータ制御、データロギング、分析機能、リアルタイムのデータ収集と分析のためのネットワーク接続などの高度な機能を提供します。コンパクトな設計により、厳しい環境制御が可能であり、追加の機器を使用せずに試験を行うことができます。全体として、TEL/TOKYO ELECTRON 20 SRは、ウェハレベル半導体製造におけるAPDなどのデバイスをテストするための包括的なウェハプローバソリューションを提供します。その高度な機能と優れた性能により、今日の要求の厳しい半導体製造タスクに最適です。TEL 20 SRは、幅広いテスト機能と機能を提供することにより、信頼性の高い正確なデバイス試験に最適です。