中古 TEL / TOKYO ELECTRON 20S #9270099 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON 20Sは、さまざまな試験・プロービング用途で正確な結果を提供する汎用性と強力なプローバーです。200〜300mm （mm）の複数の基板に対応できるように設計されたポータブルでコンパクトなプローブステーションです。TEL 20S proberは、電動ステージを備えた二軸変換ステージを提供し、正確で正確なアライメントを実現します。プローバーは基板を調査して整列させ、必要なスキャン経路をプログラムします。スキャンは2次元（XとY）で簡単に行うことができます。二軸ステージは、簡単なプロービングと精度のセルフセンタリング機能を備えています。Proberは、反射測定、ダークフィールド、ブライトフィールド、差動イメージングなど、さまざまな構成可能な光学系でウェハテストを実行できます。さらに、プローバにはウェーハテスト中の画像取得を最適化するための光学アライメントツールが装備されています。統合音声応答（IVR）装置を使用して、ユーザーはタッチスクリーンインターフェイスを介してシステムと通信することができます。IVRユニットは、機械の機能に素早く簡単にアクセスできるだけでなく、プローバの動作に合わせて音声フィードバックを提供します。TOKYO ELECTRON 20S Proberには、導電性プローブ、Eビームボックス、光検出器、顕微鏡、スキャニングトンネリング顕微鏡（STM）などのプローブも網羅しています。これにより、表面検査、導電性試験、Eビームリソグラフィ、STM解析などの幅広いアプリケーションが可能になります。コア機能に加えて、Proberにはオートチューニング機能と画像解析機能も内蔵しています。これにより、半導体ウェーハの迅速かつ効率的なテストが可能になります。プローバはまた、環境ノイズの影響を最小限に抑えるためにノイズを抑制するとともに、ウェーハ表面に簡単にアクセスできるホットチャックアダプタも備えています。さらに、プローバーには、プローバーに配置された異なる材料の正確な測定を可能にする粘度厚さ制御などの追加機能も装備されています。また、プローブのずれをすばやく検出できる自動検索ツールも含まれています。20S proberは、半導体ウェーハのテストとプロービングに最適なツールです。その特徴と精度の組み合わせは、さまざまな基板のテストとプロービングを必要とするあらゆるアプリケーションにとって非常に貴重なツールです。