中古 TEL / TOKYO ELECTRON 19S #9285139 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON 19Sは、ウェーハプロービングサービス用に設計されたプローバーです。Proberは、半導体ウェーハ、基板、基板および関連組立部品を測定およびテストするために使用される半導体測定装置です。ウェーハオートメーション、データファミリのサポート、テストスケジューリングなど、幅広い機能を提供します。TEL 19S proberはモジュラー設計を採用しており、効率的な拡張性を実現しています。モジュール性により、工具やポジショナを取り外すことなく、ウェーハや基板を素早く簡単に交換できます。ツーリングとポジショナは、幅広いウエハサイズに対応できるように設計されており、高スループット処理が可能です。付属のソフトウェアパッケージは、プログラミングとテストスクリプトのサポート、ウェーハオートメーションの設定、テストスケジューリングの制御にユーザーフレンドリーなツールを提供します。また、ウェーハ表面の特徴と欠陥を正確に解析するために設計された自動フィルタレススリットレス光学顕微鏡システムも備えています。また、キャパシタンススキャン技術により非接触表面測定が可能であり、ウェーハ表面の地形特性を高解像度で画像化することができます。また、ウェーハのサンプリングや検査においても高い精度を発揮します。自動化された光学顕微鏡とキャパシタンススキャン技術を組み合わせることで、大型ウェハの迅速かつ正確な検査が可能になります。TOKYO ELECTRON 19 S proberは、優れたウェーハプロービング性能を実現するよう設計されています。プローバーは、セルフアライメント、プローブレスアライメント、高周波プロービングなどの高度なプロービング技術を利用しています。プローブアセンブリは振動がないように設計されており、信頼性の高いスループットを実現します。また、ウェーハの取り扱いや測定時にピンセットのような精度を提供し、完成したウェーハの検査、テスト、ソート時に高い精度を実現します。全体的に、19 S proberは、さまざまなウェーハプロービング、テスト、ソート機能を提供するように設計された機能豊富な計測デバイスです。モジュール設計と包括的なソフトウェアパッケージにより、ユーザーはテストスケジューリングの制御、ウェーハプロセスの自動化、ウェーハと基板の迅速な交換をユーザーフレンドリーに行うことができます。高度なプロービング、アライメント、キャパシタンススキャン機能により、ウェーハの測定および検査時に高い精度を提供します。そのため、高速で信頼性の高いウェーハプロービングサービスを必要とする半導体業界にとって理想的なツールです。