中古 TEL / TOKYO ELECTRON 19S #9069026 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON 19Sは、集積回路（IC）の高水準の試験・分析機能を提供するプローバ機器です。このシステムは、TEL Limited （TOKYO ELECTRON）によって開発され、完全なプロセスの均一性、試験および測定機能を提供します。このユニットは、金型温度、プローブ力、接触抵抗、IC特性、金型接触、目視検査、照明など、さまざまなパラメータを測定できます。TEL 19Sは、プローバー、計測モジュール、オートメーションマシンの3つの主要コンポーネントで構成されています。TOKYO ELECTRON 19 S proberは、さまざまなフォーマットとサイズのICをプローブすることができます。プローバーは、最大高さ300mmまでのウェーハ、基板、ダイスを取り扱い、位置決めします。Proberは多軸モーションコントロールを備え、12。2メガピクセルのハイエンドのフルデジタルCCDカメラを搭載しています。また、均一な温度制御のためのヒーターを備えた金型冷却ツールを備えています。TOKYO ELECTRON 19S計測モジュールは、金型温度、接触抵抗、デバイス順序、金型整合性、電圧レベルなど、ICの正確な特性評価のためのさまざまなパラメータを提供します。すべてのプローブパラメータは0。1um以上の精度で測定できます。このユニットは最大1 umの機械分解能を持ち、1ダイあたり最大64ピンを正確に測定できます。最後に、オートメーションアセットにはPC制御/データロギングソフトウェアが含まれ、Windows、 Linux、およびMac OSオペレーティングシステムと互換性があります。直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスを備えており、ジョブオートメーションを簡素化し、計測プログラムを迅速かつ簡単に作成および管理できるパワーをユーザーに提供します。自動化モデルにより、プローバの状態と性能を容易に監視し、定期的な校正を行い、自動化された環境でICデバイスのパラメータを測定できます。結論として、19SはICのための高レベルのテストと分析を可能にする強力なプローバ機器です。このシステムは、接触力、デバイス順序、および金型温度などの完全なプロセス均一性、試験および測定機能を提供します。さらに、精密計測モジュールと直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスを備えています。ウエハやICの試験・解析に最適です。