中古 TAKAYA APT 9411CE #293762873 を販売中

TAKAYA APT 9411CEは、集積回路などの半導体構造の欠陥を正確に検出・測定するために設計された高性能プローバです。Zステージは250 μ m、 X/Yステージは40 mmで、TAKAYA APT9411-CEはデバイスの広範囲にわたるパターンの正確な測定と分析を可能にします。この装置には可変速度、高解像度のXYZステージも装備されており、サンプルの断面または特徴を正確、正確、再現可能にスキャンできます。APT 9411 CEは、表面、エッジ、膜厚など、さまざまなデバイスパラメータのマッピングおよび測定に使用できるさまざまな高解像度光学プローブを採用しています。様々な誘電体、静電容量、漏れ電流も測定できます。このシステムには、欠陥の自動検出を可能にするImage Pre Processorや、LogiGrid Pro機能やDevice Fabrication Processorなどの高度なソフトウェア機能も含まれています。TAKAYA APT-9411 CEは、大型カラーディスプレイ、直感的なタッチスクリーンインターフェース、さまざまな入出力ツールを備えており、経験の浅いユーザーでも使いやすくなっています。また、高度な自動アライメントユニットを備えており、プローブやサンプルの簡単かつ正確な位置決めを可能にします。さらに、測定中に正確な熱制御と安定性を保証する高度な温度制御技術を搭載しています。APT9411-CEは、さまざまなプロセス条件に対応できるように設計されており、幅広い半導体試験アプリケーションに最適なソリューションです。完全に自動化された設計は、ヒューマンエラーを排除し、テスト時間を大幅に短縮します。このツールの高度な機能により、信頼性の高い正確な欠陥解析やその他の半導体測定に最適です。直感的なユーザーインターフェイスと高度な機能を備えたAPT 9411CEは、さまざまな半導体テストおよび生産アプリケーションに最適です。