中古 TAKAYA APT 9401 CE #293653800 を販売中

製造業者
TAKAYA
モデル
APT 9401 CE
ID: 293653800
ヴィンテージ: 2006
Flying prober (4) Moving probes 2-IC Open pins TOS-41 Camera system Test steps: 300000 Guarding: 2-points/step Test speed: Combination test method: 0.03~0.05 sec/step Single test method: 0.08~0.10 sec/step X-Y Positioning repeatable accuracy: ± 50 μm Probe contact pitch: 0.18 mm Low value resistance: 40 mΩ - 400 Ω Resistors: 0.4 Ω - 40 MΩ Capacitors: 4 pF - 40 mF Inductors: 4 μH - 400 H Impedance: 33 Ω - 330 KΩ Diodes/Transistors: 0.1 V - 2.5 V (VF) Zener diodes: 0.4-40 V Relays: On test (Option, DC 24 V/1 A) Vision system: Pattern matching search method Black/White Micro CCD Camera Red/Blue-LEDs Illumination Function: Simple vision test (Missing, position, polarity) Coordinates management system: Point system and teaching system (two combination) Printer: Dot impact type / Thermal type Temperature: 15-30°C Humidity: 35-70% Compatible PC/AT HDD, FDD and CD-ROM Drives (installed) LCD Monitor: 15" Resolution: 1024 x 768 dots with high color Operating system: Windows NT / 2000 / XP Power supply: 200 - 240 VAC, 50/60 Hz, 3 kVA, Single phase 2006 vintage.
TAKAYA APT 9401CEは、電子機器や部品の故障解析用に設計された精密プローバです。半導体製造プロセスの重要な部分であり、集積回路、試験および測定装置、およびその他の電子部品の機能を検証するために頻繁に使用されます。APT 9401CEは、さまざまなデバイスをテストするための多目的で信頼性の高いツールです。ハイテクで人間工学的なインターフェースを備えているため、オペレータはプローバーを簡単にプログラムし、トレーニングなしでテストを行うことができます。ユーザーフレンドリーなLCDタッチスクリーンは、デバイスを制御するためのシンプルで直感的でインタラクティブなプラットフォームを提供し、オペレータのフィードバックと簡単なプログラミングを提供します。また、サーマルプロファイリングや3D歩留まり解析などの高度な機能も提供しており、ユーザーは時間の経過とともにデバイスのパフォーマンスを解釈できます。プローバには、優れたXY可変真空チャックが装備されており、オペレータはさまざまなサイズのコンポーネントを快適にプローブできます。それは摩耗および破損を減らすために低いばね力の取り外し可能なカンチレバーの調査の腕を含んでいます。さらに、可変バキュームチャックも自動化されているため、コンポーネント間の切り替えが容易になります。高屋APT 9401CEは、高温で動作するフェロ磁気デバイス、半導体部品、デジタルデバイスを用意しています。自動化と高精度を念頭に置いて設計されており、温度範囲にわたって精度を確保するために内蔵された温度補償器を備えています。また、プローバには幅広いセンサーが搭載されており、複数のデバイスを一度に測定できるほか、非平面部品の曲面解析も可能です。APT 9401CEはカスタマイズ可能で信頼性の高いプローバーで、さまざまなプローブ、ソフトウェア、アクセサリー、オプションを提供します。Proberは特に、集積回路、試験および測定装置およびその他の電子部品の故障解析およびテストに適しています。高精度で幅広い機能を備えたタカヤAPT 9401CEは、信頼性の高い性能を提供し、正確なデバイス試験につながっています。
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