中古 TAKAYA APT 8400CJ #9350684 を販売中

TAKAYA APT 8400CJ proberは、中小型半導体デバイスの電気試験およびプロービングに使用される機器です。小型プローブの正確な取り扱いのための高精度で統合された顕微鏡システムを採用した、完全自動化されたマルチプローブ、マイクロポジショニングシステムです。TAKAYA APT 8400 CJは、XYZと回転ステージと傾斜ステージの組み合わせを使用して、テストとプロービングの完全な柔軟性を実現しています。このシステムは、優れた再現性を提供し、見事な精度でデバイスの複数の側面に沿ってプローブすることができます。位置決めシステムの精度により、シリコンウェーハ上の接点を0。10mm、長さ12mmまでプロービングすることができます。基板パラメータのバリエーションは、Z軸と回転軸を調整することで考慮されます。精度と効率を最大化するために、APT 8400CJは部品またはデバイスのパラメータを一貫してキャプチャできます。マルチプローブ試験には、別々に動作するさまざまなプローブヘッドが使用されており、それぞれ個別に調整可能な出力を持つことができます。さらに、プローブを急速に変更することができ、試験プロセスを削減します。強力なモータードライブの上に、proberは安定性および効率を最大にすることができる洗練された電子制御操作を提供します。APT 8400 CJには、独立した測定コンポーネントと高度なマイクロプロセッシングが装備されており、精度をテストするための堅牢なパラメータ設定を提供します。この測定では、プローブとデバイスのサンプル間の接触を推定しますが、電流および電圧タイミングの計算を含むデータ分析により、最適な試験結果が保証されます。TAKAYA APT 8400CJ proberは、中小型半導体デバイスのプロービングに最適なオールインワンソリューションです。完全な自動化、統合された顕微鏡システム、高度なモータードライブ、および独立した測定コンポーネントにより、小型で繊細な部品の正確で効率的なプロービングを保証します。