中古 TAKAYA APT 8400 #293823261 を販売中
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ID: 293823261
ヴィンテージ: 1993
Flying prober
(4) Moving contact probes
PC
Keyboard
1993 vintage.
TAKAYA APT 8400は、マイクロエレクトロニクスや半導体デバイスの非伝統的な高精度プロービング、検査、テスト用に設計されたプローバです。優れたマルチゾーン高解像度設計と長時間フォーカスアームにより、柔軟性と高精度を提供します。APT 8400は、5ゾーンの高度なイメージングシステムを備え、0。5ミクロンの解像度で薄膜フォトマスクとウェーハを正確に測定できます。独自のマルチゾーンアーキテクチャにより、信号の最適な回復を可能にし、多様で重要なソースと測定動作をもたらす軸外信号の影響を最小限に抑えます。その拡張プロービングレンジは、ユーザーに快適性の評価を高め、寸法測定精度を向上させます。8400は、3次元測定に適した2軸ロータリーステージを内蔵しています。軸は部品と接触すると回転し、プローブ先端の正確な位置決めを提供します。アライメント機能と画像解析機能を内蔵しており、同じジオメトリで複数の部品を正確に検査できます。TAKAYA APT 8400 proberは、高速信号試験および解析アプリケーションが可能で、生産スループットを最大限に引き出すことができます。高速データ収集システムとスペクトルアナライザによる信号解析をサポートし、信号の振幅と純度を監視します。また、最適な測定結果のための柔軟な複数のパラメータ設定オプションを提供します。Proberは、直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスと人間工学に基づいたナビゲーションで使いやすく設計されています。プログラマビリティ、オートメーションスクリプト機能、パラメータ設定などの自動タスク機能をサポートしています。さらに、8400には可変耐性ポジショニングおよびマイクロアライメント技術が搭載されており、困難な形状の正確な測定とテストが可能です。全体として、APT 8400は強力で精密なプローバであり、マイクロエレクトロニクスや半導体デバイスの複雑な形状の検査とテストに適しています。マルチゾーンイメージングシステム、拡張可能なプロービング範囲、直感的なGUIにより、プロセス制御、精度、再現性を向上させる強力な選択肢となります。
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