中古 TAKAYA APT 8400 CD #9035123 を販売中

TAKAYA APT 8400 CDは、固体表面およびナノスケール系の電気特性の研究において、サブナノメートル分解能を達成するために設計されたスキャニングトンネリング顕微鏡（STM）プローバです。このシステムは、高解像度のスキャニングトンネリング顕微鏡を使用して、原子スケールでの正確な測定とイメージングを可能にします。APT 8400 CDは、精度と解像度の向上だけでなく、高度な研究のための電気絶縁と冷却能力の向上を提供するユニークな設計を利用しています。Proberの設計は、精密ステージに取り付けられたSTMヘッドアセンブリで構成されており、そのコンポーネントは顕微鏡の動作の正確な微調整と安定化を可能にします。ピエゾ駆動のX軸とY軸、およびZ軸アプローチは、すべての3次元で制御された動きを可能にします。プローバーのピエゾ駆動サンプルローテータとz軸アプローチは、回転とサンプルzの動きを補正し、ドリフトと振動の両方のノイズを低減します。この精度と安定性の組み合わせにより、TAKAYA APT 8400 CDは卓越した性能を発揮し、z方向0。2nm、 x方向0。4nmの解像度を実現します。プローバには、専用の信号アンプ、低ノイズプリアンプ、DSPコントローラ、高度なソフトウェア制御など、スムーズな動作を保証するさまざまな重要なエレクトロニクスが装備されています。DSPコントローラは、コンピュータ制御の電圧レギュレータとともに、STM測定に干渉するドロップアウトノイズを低減します。さらに、プローバの低ノイズ環境とDSPコントローラの高速応答により、信頼性の高いデータ収集が可能です。また、STM測定の精度と再現性を向上させるために、さまざまな機能が組み込まれています。内部フィードバックループは、チップサンプル相互作用を最大100Hzのデータレートで監視し、チップ/サンプル相互作用を安定化し、接触ノイズを低減します。自動化されたチップアプローチとスキャン機能により、正確で再現性のある測定が可能です。全体的に、APT 8400 CD proberは、ナノメートルスケールで電気特性を正確かつ正確に測定する洗練された機器です。高速動作と低ノイズ動作を兼ね備えた高精度・再現性を実現しています。