中古 SIGNATONE S-301-6 #9359243 を販売中

SIGNATONE S-301-6 proberは、研究、開発、生産における高速、ファインピッチ、および信頼性の高いウェーハプロービング用に設計された、高精度で高度なウェーハプロービング装置です。MEM、 MEMC、 SOI、 CMOSデバイスなどの半導体デバイスのテストに最適です。このシステムには6軸校正ユニットが装備されており、自動化された正確なアライメント、インデックス作成、ピッチ測定、ピッチ制御が可能です。6軸マシンは、高速電動翻訳ステージによって駆動され、最大16個の調整可能なプローブ針を使用することができます。プローブ針は、垂直および横方向の電気的および光学的パラメータの両方を測定するために使用できます。プローバーには、自動ウェーハアライメントと自動ウェーハハンドリングのためのLEDベースの光源を使用するオートフォーカスカメラも装備されています。高解像度カメラとビジョンツールにより、正確で再現性のあるプロービングを実現します。アセットはユーザーフレンドリーなメッセージベースのインターフェイスを備えています。ユーザーは、繰り返し測定のための設定とプロファイルを作成することもできます。S-301-6 proberは、正確で繰り返し可能な測定とウェーハの高速操作を提供します。それはさまざまな普及した自動調査およびスキャンの調査機械（SPM）と完全に互換性があります。これは、IEEE信号プロービング標準（IEEE 1587。1）との互換性を目的として設計されており、多くの異なるヒントと互換性があります。4-in-1プローブステーションは、4つのプローブを同時に使用でき、最大6インチウェーハサイズのプロービングをサポートできます。プローブステーションは、最適な接触に複数の調整可能なプローブチップを使用し、放熱用の熱交換器を内蔵しています。また、UVウェルプレートの調整可能なホルダーを備えており、最大24のウェルに対応でき、標準的なUVカベットで使用するために設計されています。さらに、統合されたウェーハチャックとトレイは、自動化されたウェーハ配置と大規模なウェーハ機器テストのための安全なプラットフォームを提供します。高度で精密なプローバは、短抵抗、ゲート漏れおよびオンステート電流、電力漏れ、抵抗容量値、閾値電圧などのさまざまなパラメータをテストするために使用できます。また、散乱パラメータやTime Domain Reflectometry （TDR）測定などの幅広い周波数測定も可能です。SIGNATONE S-301-6 proberは、さまざまな半導体コンポーネントを測定およびテストするための信頼できる信頼できるツールとなっています。包括的な機能により、研究、開発、生産における試験および測定に最適です。使いやすさ、高精度、再現性、幅広い機能により、コンポーネントの迅速かつ正確なテストが可能です。