中古 SIGNATONE S-1007 #293639829 を販売中

SIGNATONE S-1007 Proberは、集積回路の自動テスト用に設計された半導体プロービング装置です。このシステムは、最も要求の厳しい製造およびプロービング要件のために、コンパクトで高速なパッケージで提供される最大256のテストサイトの接触および非接触プロービングを提供します。このユニットは、複雑な製造プロセスで必要なDUT（テスト対象デバイス）と中間構造の両方をテストすることができます。SIGNATONE S1007 Proberは、高速インターコネクトマシン、洗練されたプロービング/コンタクトヘッド、自動化されたテストフレーム、および温度制御測定システムを備えた試験装置の最新の技術進歩を統合しています。最大256箇所の試料面積があるため、さまざまな半導体デバイスを利用することができます。プローブカードの高精度で迅速な電子設計は、各デバイスの電気的挙動と性能を正確に決定する手段を提供します。S-1007 Proberの高解像度XYテストテーブルは、正確で信頼性の高いウェーハアライメントを保証し、自動テストフレームはウェーハとテストプレートの迅速なロードとアンロードを可能にします。さらに精度を高めるために、Proberの温度制御環境は、信頼性の高いテストに必要な正確な温度値でテスト領域を維持します。S1007 Proberは、データ収集、分析、結果表示のための強力で高度に構成可能なソフトウェアスイートを備えています。このツールは、インターコネクトおよびテストデバイス部品の広範なライブラリからテストコンポーネントのプログラミングを容易にし、ユーザーがデバイス固有のアプリケーションシナリオのテストプログラムを簡単に作成および調整できるようにします。全体として、SIGNATONE S-1007 Proberは、半導体デバイスのクラスをリードするテストに最適なソリューションです。その強力な機能、プロービングおよびテスト条件の正確な制御、プログラミングの容易さ、および高速動作により、多くの成功したIC開発および生産プロセスの好ましいツールになりました。SIGNATONE S1007 Proberを使用すると、ユーザーは利用可能な最も信頼性の高い正確なテストを提供することができます。