中古 SEMIPROBE SA-6 #9241340 を販売中

製造業者
SEMIPROBE
モデル
SA-6
ID: 9241340
ウェーハサイズ: 6"-12"
Wafer inspection systems, 6"-12" With iso tables Objectives: 10x and 50x.
SEMIPROBE SA-6 proberは、幅広いチップやウェーハに対応できる汎用性と強力なウェーハプロービングソリューションです。各ダイの正確な位置決めとマッピングにより、試験歩留まりを最大化するように設計されています。SA-6は、高精度の単一真空チャックと完全に自動化されたダイプレートスキャンを備えており、手動のアライメント時間を削減します。このプローバは、低ダイツダイ変動で信頼性と再現性の高い結果を提供します。それは異なった適用のためのさまざまな調査カードを提供します。SEMIPROBE SA-6 proberは、ベースユニット、ダイスキャンプラットフォーム、プローブカードで構成されています。ベースユニットには、正確なウェーハインデックスを提供する強力なデジタルシグナルプロセッサ(DSP)と、正確なウェーハツープローブカードマッピング用のマイクロプロセッサ制御Z軸が含まれています。ダイスキャンプラットフォームは、最大500mmのスキャンが可能で、フラット、スクエア、長方形、円形など、さまざまな金型形状に対応できます。プラットフォーム上の各ダイの精度アライメントにより、一貫したテスト結果を得ることができます。プローバのプローブカードは、高い動作速度SA-6正確かつ再現可能な測定を提供するように設計されています。最適な性能を得るために校正されており、繰り返し可能で一貫性のある測定のための自動レベリングシステムを備えています。それはまた異なった破片のサイズまたはテスト構造のための手動か自動テストヘッドのアダプターの広い選択が装備されています。精密プローブカード機能に加えて、SEMIPROBE SA-6 proberはテスト品質を向上させるための他の多くの機能を提供します。これらには、傾きや歪みによるアライメントの不正確さを排除するフォース制御機能が内蔵されています。また、調節可能な線量および火災間隔を備えており、テスト間のばらつきを低減します。さらに、統合されたフラットネス補正システムにより、パターン化されたウェーハ全体で正確な測定が可能になります。SA-6 proberは、最も困難なテスト環境でも信頼性と再現性の高い結果を提供するように設計されています。これは、時間の経過とともにパフォーマンスを最適化する独自の自己学習アルゴリズムを備えています。そのフェイルセーフ技術は、プローブカードのずれや短絡を検出して排除し、信頼性の高い測定結果を保証するように設計されています。さらに、統合されたロギングおよび診断ソフトウェアは、テスト結果の包括的な概要を提供します。
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