中古 SEMICS Opus3 #9068355 を販売中

SEMICS Opus3は、SEMICSによって開発された高度なプローバプラットフォームで、効率的なウェーハプロービングによって集積回路（IC）の電気特性を測定および分析することができます。この装置は、ICの欠陥をすばやく特定し、設計を最適化するための高性能でユーザーフレンドリーな操作を提供します。SEMICS OPUS 3は、完全にコンピュータ化されたプロービング、自動ダイツダイ比較テスト、マルチダイスキャン機能など、プローバ技術の最新の進歩を利用しています。また、チャックの自動位置決めや、プローブヘッドへのウェーハの自動ロードも可能です。その結果、IC Opus3素早く測定し、ダイパラメータとサブダイヤパラメータを区別することができます。OPUS 3の高精度により、暗視野および明視野イメージングを実行するだけでなく、ICの欠陥をすばやく特定することができ、電気パラメータの微妙な変化を検出することができます。このプラットフォームは、CCDカメラを使用して、SEMやTEM画像などのさまざまな画像形式でICの表面情報を表示します。SEMICS Opus3は、プローブ操作中にICパラメータを調整できる高度な制御システムを提供します。Parameter ManagerとProbe Program Managerソフトウェアを使用することで、IC条件を最高の信号対ノイズ比と最高のテスト速度で調整できます。ユーザーはまた、プローブレシピをパラメーター化し、固定パラメータまたはカスタマイズされたレシピでダイスパラメータを即座に更新することができます。さらに、ウェーハテストやウェーハマッピングなど、さまざまな測定オプションを提供しており、複数のプロセスノードでICを比較しながら、さまざまな電気測定を得ることができます。このソフトウェアを使用すると、プロービングパターンパラメータを設定することもできます。全体として、SEMICS OPUS 3は、ICを迅速に識別してテストするための幅広い機能を提供する高度なプローバプラットフォームです。このプラットフォームは、複数の測定オプション、自動プローブ操作、および高性能の欠陥検出のためのCCDカメラサポートを提供します。このマシンには、カスタマイズ可能で効率的な操作のための高度なParameter ManagerとProbe Program Managerも用意されています。