中古 SEMICS Opus3 DP #9217067 を販売中

SEMICS Opus3 DPは高性能で精密なプローバーです。ウェーハ、チップ、その他の小型試料の効率的で信頼性の高いプロービングおよび電気試験用に設計されています。この装置は、さまざまなサンプルサイズに対応できる大径6インチのスプリットウェハステージを備えています。精度の高い再現性と解像度でウェーハを移動できる自動XYサンプル位置決めシステムを搭載しています。このユニットはユーザーフレンドリーに設計されており、セットアップとキャリブレーションを最小限に抑える必要があります。Opus3 DPは、スムーズで正確なプロービングを保証するために、高精度のクローズドループDCドライブマシンによって駆動されます。また、サブミクロン範囲の変位を測定できる高分解能干渉計を内蔵しています。これにより、繊細なサンプルの制御、正確なプロービング、およびテストが可能になります。さらに、このツールにはサンプル固有のパラメトリックテストプログラムが装備されており、データ分析と統計機能、および自動サンプルキャプチャを提供し、信頼性の高い堅牢な結果を保証します。SEMICS Opus3 DPは、高度なエレクトロニクスと通信インタフェースを活用してデータ収集とリモートコントロールを行います。これは、イーサネットまたはRS 232通信オプションを介してホストコンピュータに接続されています。ホストコンピュータは、資産機能の制御と監視、および結果の保存と分析に使用できます。このモデルは、業界標準のさまざまなテストスイートと互換性があるため、他の自動テストシステムに簡単に統合できます。Opus3 DPは信頼性のために設計されており、そのコンポーネントは長寿命で堅牢に設計されています。また、高速でクローズドループのスキャン装置を備えており、高速で繰り返し可能なプロービングとデータキャプチャ速度を提供します。システムの信頼性と精度は、高性能で高度なデバイスのテストに非常に適しています。全体として、SEMICS Opus3 DPは、高精度プロービングとテストのためのさまざまな機能と機能を備えた信頼性の高い高性能プローバです。チップ試験、高度なデバイスのプロービング、ウェーハ解析、サンプルキャプチャに使用されるかどうかにかかわらず、Opus3 DPは、結果の正確性、再現性、および信頼性を提供するように設計されています。