中古 SEMICS Opus III #9412264 を販売中

SEMICS Opus IIIは、半導体ウェーハおよびデバイス上でさまざまな小規模電気試験を実行するための完全自動化プローバです。通常、デジタル、アナログ、ミックスドシグナルICのバーンインおよび機能テストに使用されます。このシステムは、特許取得済みの独自のマルチポイントプローブ技術を備えており、テスト中のデバイス上の信号パッドと正確かつ再現可能な接触を保証します。最先端のモーションコントロールシステムは、シングルデバイスプローブからフルウェーハアレイまでのデバイス構成で複数のテストサイトをプローブすることができます。Opus IIIには32ビットPentiumベースのプロセッサとWindows 7ベースのシステムプラットフォームがあります。2つの光学カメラ、2つの手動プロービングステーション、8ポートの電子マルチプレクサ、およびウェーハプローブカードにインストールできる最大16の針プローブが装備されています。Proberは、短時間/オープンテスト、パラメトリックテスト、スイッチング精度テスト、ESDテスト、およびVCD/NCD自動能力テストなどの電気測定ツールの完全なセットをサポートしています。マルチプレクサとニードルプローブにより、数十万点のテストポイントを全自動で高速スキャンできます。また、Proberは独自の多言語ユーザーインターフェイスを備えており、使いやすいグラフィックインターフェイスでテストをプログラムしたりカスタマイズしたりすることができます。Microsoft Visual Basic for Applicationsを使用して、ユーザー定義のスクリプトとマクロをカスタムプログラミングできます。SEMICS Opus IIIは、集積回路のプロービング、評価、特性評価、デバッグのプロセスを簡素化する高度なテストソリューションです。最先端のロボット技術と強力なユーザーインターフェースにより、エンジニアは半導体製品を迅速かつ効率的に正確に測定、シミュレーション、検査するために必要な柔軟性と容易さを提供します。自動車、航空宇宙、通信など幅広い業界で使用されています。Opus IIIは、自動化されたICテストと評価のための信頼性と経済的なツールです。