中古 SEMICS Opus III #9410118 を販売中

SEMICS Opus IIIは、半導体製造のために設計された汎用性の高いマルチチャネル抵抗プローバです。最高レベルのパフォーマンスと柔軟性を提供し、高品質のデバイスを効率的かつコスト効率の高い生産を可能にするように設計されています。Opus III Proberは、さまざまなテスト機能を備えており、トランジスタ、ダイオード、ウェーハ、パッケージなどのさまざまなデバイスを特性評価およびテストできます。信頼性の高い二軸位置制御により、試験中のデバイスの正確なステージング、プロービング、配置が可能です。Proberのマルチチャンネル、高速スキャンアーキテクチャにより、デバイスが正確、迅速、かつコスト効率よくテストされることが保証されます。SEMICS Opus III Proberは、内蔵のLCDモニターと関連するキーパッドを備えたコンパクトで人間工学に基づいたデザインです。このモニターにより、オペレータはディスプレイ上でテスト結果を表示することができ、簡単で効率的なデータ分析と診断が可能になります。トラブルシューティングとテストのための詳細なグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）を提供するProberの高度な制御ソフトウェアは、テストのセットアップをさらに合理化します。Opus III Proberの中核にあるのは、高度なウェーハ処理装置です。このシステムは、プローバ内の複数のウェーハを正確に整列させるように設計されており、生産効率が優れています。最高レベルの精度と精度を確保するために、Proberは独自の光学アライメントユニットを備えており、タップや調整なしにステージ上でテスト中のデバイスを正確に整列させます。精密なアライメントマシンに加えて、SEMICS Opus III Proberは高度な静電保護ツールも備えています。これにより、試験中の静電放電（ESD）損傷からデバイスを保護することができます。プローバーの堅牢な電気試験アセットにより、電流、電圧、スイッチング速度などのデバイス特性を正確に測定できます。Opus III Proberは事前に校正されているため、追加のセットアップや校正は不要です。これはproberが箱からまっすぐに作動する準備ができていることを保障します。また、ユーザーフレンドリーに設計されており、自己診断ビジネスシステムと使いやすい操作パネルを備えており、ユーザーはテストを迅速に構成してテストデータを表示できます。全体として、SEMICS Opus III Proberは、デバイスを迅速かつ正確に測定するための優れたツールです。半導体デバイスの信頼性の高い高性能試験をさまざまな用途で提供し、プロトタイピングと生産に最適なツールです。