中古 SEMICS Opus III #9410027 を販売中

SEMICS Opus IIIは、半導体チップ、集積回路、その他のマイクロエレクトロニクスデバイスなどのデバイスの物理的および電気的パラメータを測定するために設計された自動プローバです。Opus IIIには、デバイスの目視検査用のオートフォーカスカメラと光学機器、およびテストおよびプロバーアプリケーション用の2つのロボットアームが装備されています。ロボットアームは、デバイスのプロービング、トラブルシューティング、検査のための正確で再配置可能な環境を提供するように設計されています。プローバーには、自動デバイストレイ積載システムと複数の測定チャネルも備えています。プロービングユニットは、デバイスの接触抵抗、静電容量、インダクタンス、接触抵抗およびその他のパラメータを測定および分析するために使用されるSEMICS高度物理特性測定技術（PPMTM）に基づいています。Proberは、VXI、 GPIB、 PCI、 FEDBUS、 VMEなどの複数のタイプの測定機器にも対応しています。マシン全体は、統合されたコンピュータソフトウェアとモニターを使用して制御されます。物理的特性は、異なるデバイスの個々の特性を考慮した数学モデルに基づいているOptiflowソフトウェアを使用して測定されます。このツールは、高感度のプローブヘッドを使用して、物理的特性の微細な変化を高精度で測定するように設計されています。ソフトウェアは、さまざまなタイプのプローブとデバイスのカスタマイズ可能なパラメータとキャリブレーションを使用して、テストシーケンスと測定スクリプトを制御するために使用されます。SEMICS Opus IIIには、漏れ電流検出器（LCD）、バイアスプローブ、資産特性評価用の計測器、精密温度制御などの電気特性評価用の複数の計測器が装備されています。このモデルは、測定結果をデバイスモデルと統合して、効率的なデバイス解析を生成するように設計されています。この解析結果は、デバイスの異常な動作や故障を特定するのに役立ちます。Opus IIIには、安全なデータセンターへの信頼性と安全な接続が組み込まれており、ユーザーはテスト結果にアクセスして機器をリモートで管理できます。また、直感的でユーザーフレンドリーなコントロールパネルを備えており、ユーザーは簡単にユニットを構成および管理することができます。SEMICS Opus IIIは、半導体業界のお客様がデバイスを効率的かつ正確にテストおよび分析できるよう、革新的で費用対効果の高いプロバーソリューションを提供します。