中古 SEMICS Opus III #9393617 を販売中

SEMICS Opus IIIは、正確で信頼性の高い結果を求める人々に非常に求められている専門的なタイプのプロービングプロセスです。サンプルの粒子や構造を分析し、その物性を決定するために様々な組織で使用される技術です。具体的には、Opus IIIは3次元電子顕微鏡を用いたプローブ技術です。サンプルの3次元表面をマッピングする高解像度CCDカメラを備えた特別設計のSEMプローブ装置を採用しています。高精度なプローブは、マルチレンズオブジェクトシステム、走査型電子顕微鏡カラム、その他様々な部品で構成されています。このユニットは3ナノメートルの分解能を実現し、複雑な解析の分解能と精度を大幅に向上させます。SEMICSマシンは、まずサンプルの表面を3次元でスキャンし、物理構造の画像をキャプチャします。このデジタルスキャンは、様々な周波数やパターンについて分析され、指定されたサンプルの物理的な構造に関する洞察を与えることができます。このタイプの分析は、弾性、引張強度、熱伝導性、電気伝導性、およびその他の物理的特性などの材料特性を決定するために使用できます。このツールはまた、ユニークな「X線のような」分析形態を提供し、サンプルの内部特徴の研究を可能にします。SEMICS Opus IIIは、金属などの導電性サンプルからプラスチックやポリマーなどの非導電性サンプルまで、幅広いサンプルをプローブすることができます。高解像度で正確な画像処理結果を提供し、他の方法では収集できないサンプルに関する情報を提供します。3Dスキャン機能により、元のサンプルの微細構造の欠陥を検出するためにも使用できます。さらに、その結果は非常に詳細であり、物質サンプルの物理的な構造と構造に関する非常に包括的な情報を提供することができます。Opus IIIは、材料や部品を正確に研究するために、幅広い業界で成功裏に採用されている非常に汎用性の高い強力な技術です。ナノメートル分解能は、半導体、ナノ材料、その他の高精度の粒子などの微細なサンプルを探査するのに特に有益です。この技術の幅広い適用性と信頼性の高い精度により、材料分析に広く受け入れられています。