中古 SEMICS Opus III #9378095 を販売中
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SEMICS Opus IIIは、半導体デバイスの測定および分析用に設計されたプロービングシステムです。半導体製造におけるすべての測定およびテスト作業に、包括的で汎用性の高いソリューションを提供します。Opus IIIには、最大解像度45 µmの2つの高性能マルチチャネル顕微鏡イメージングシステムが搭載されており、試験中のデバイスの完全な3Dイメージング機能を可能にします。プローブヘッドには、調整可能なX/Yポジショナー、調整可能なZステージ、および小さなサンプルを処理するための真空チャックがあります。フレキシブルな光学アライメントとフォーカシングメカニズムは、高速なサンプル操作と検査のための最高の精度と精度を提供します。SEMICS Opus IIIは、さまざまなプロービングおよびデータ取得戦略のためのさまざまなオプションを備えた高性能プロービングモジュールの幅広い選択肢を備えています。最も人気のあるのは、熱、電気、および機械的プロービングです。サーマルプロービングモジュールは、テスト中のデバイスの温度プロファイルを測定する強力なツールです。電気プロービングモジュールは、デバイスの品質を検査するために、さまざまな電圧および電流試験機能を提供します。機械的プロービングモジュールは、デバイスの抵抗特性および非抵抗性を測定するための高精度データ測定を提供することができます。Opus IIIには、画像処理、熱および電気データ解析、機械的データ調査など、幅広い分析ツールがあります。ユーザーフレンドリーなグラフィカルソフトウェアは、豊富なメニューとヘルプファイルを簡単にナビゲーションできます。このシステムにはオープンアーキテクチャが装備されており、他の既存のソフトウェアパッケージやツールとの統合が可能です。さらに、このシステムは、より複雑な測定のために、温度源や電圧などの外部信号源に接続することができます。SEMICS Opus IIIの高機能により、半導体デバイスを迅速かつ正確に検査および分析するための信頼性の高い強力なソリューションとなります。
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