中古 SEMICS Opus III #9378092 を販売中
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SEMICS Opus IIIは、高電圧試験、半導体デバイスのプロービング、および半導体コンポーネントの機器レベル検証用に特別に設計されたプローバです。完全に自動化された設計は、高スループット、低コスト、低メンテナンス試験に最適化されています。Opus IIIには、信頼性と正確なテストのための業界標準を満たすのに役立つ品質管理機能が含まれています。SEMICS Opus IIIは、試験システムとプローブステーションで構成されており、最大6つのマルチピンプローブ（MPP）モジュールプローブヘッドを備えており、自動大容量試験が可能です。MPPモジュールはデュアルプローブカード設計で、最大6種類のピンを同時にテストできます。各ピンは完全に自動化され、個別に校正され、高電流デバイスの正確なテストが可能です。また、デュアルプローブカード設計により、汚染を最小限に抑え、均一な試験条件を保証します。テストユニットは、さまざまなテスト要件のさまざまなテストシーケンスと条件をサポートするようにプログラムすることができます。ネットワークベースのマシンコントローラ、試験機器、電源、およびデバイスへの熱効果を分析するためのサーマルイメージングモジュールが含まれています。幅広いデバイスパッケージと最大200mmの大規模集積回路（LSI）をサポートします。コントローラはリアルタイム操作ツールで構成されており、テストシーケンスのパラメーター設計、テストのリアルタイム監視が可能です。Opus IIIは、資産レベルの検証と品質管理のための高速テスト機能を提供します。試験加速機能には、ベクトルベースのタイミング（VBT）とシングルパルス解析（SPA）があり、試験性能が向上します。SEMICS Opus IIIは、最大12のI/Oピンの自動テスト、100µsの再現性、および複数のデバイスの20nsスキャンタイムを備えています。Opus IIIは、さまざまなデバイスのプロービングとテストのための汎用性の高いプラットフォームを提供します。デバイス特性の継続的な監視を可能にし、再現性があり、高い歩留まりと正確な試験結果を維持するように設計されています。ソフトウェアとハードウェアの構成は、本番テストシステムとの迅速なセットアップと簡単な通信のために設計されています。SEMICS Opus IIIは、高スループット、低コスト、低メンテナンス機能により、半導体デバイスの品質管理および生産試験に最適です。
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