中古 SEMICS Opus III #9350492 を販売中

SEMICS Opus III proberは、ウェーハおよびデバイスプローバの動作を実行するように設計された包括的で汎用性の高い半導体ウェーハ試験システムです。フルウェーハレベルの生産、ウェーハソート、エンジニアリングウェーハ、金型ソート、コンポーネント、信頼性試験など、さまざまな種類のウェーハテストをサポートしています。Opus III proberは、RF、アナログ、デジタル、ミックスドシグナルデバイスなど、ウェーハおよびデバイスレベルの幅広いアプリケーション向けにプロービングソリューションを提供します。Proberのデザインは、独自のユーザーフレンドリーなインターフェースを備えており、テストとその関連パラメータの包括的なライブラリを提供します。これは、単一のデスクトップPCから完全なウェーハとデバイスレベルのプログラミングを提供し、テストオペレータの時間デバッグソフトウェアを節約し、変更を行います。これにより、テストサイクル中に複数のデバイスを維持する複雑さが軽減され、オペレータはテストと分析に集中できます。SEMICS Opus III proberには、さまざまなアプリケーションをカバーするために利用可能なテストと測定の広範なライブラリがあります。これらのテストでは、位置、ジャンクション漏れ、分離漏れ、ジャンクション容量、スレッショルド電圧、チャネル長の測定など、最大19のパラメータを検出、識別、レポートできます。また、スキャンテスト用に統合されたビデオベースのダイおよびダイ認識方法も提供します。スキャン技術により、プローバはテストのカバレッジを最大化し、プロセスの精度とデータ精度を向上させることができます。Opus III proberは、ウエハテスト以外にも幅広い機能を備えています。カスタムソフトウェアとハードウェアプラグインをホスティングするためのオープンなプラットフォームが含まれており、より高いレベルのカスタマイズと拡張性を可能にします。プローバには、ウェーハサイズの異なる処理と、ウェーハの読み込みを迅速に行うためのプリアライメントツーリングのオプションも含まれています。SEMICS Opus IIIはまた、より速いテスト操作を可能にし、より良い精度のためにモーションアーティファクトを削減する一連の先進的なモーションコントロールシステムを誇っています。Opus III proberのその他の機能には、ソフトウェアベースのパス/フェイル解析、統合リークテスト、デバイス機能の特性評価のための抵抗試験などがあります。また、既存のテストシステムに統合するためのAPI（アプリケーションプログラミングインターフェイス）が付属しているほか、柔軟な電源アップグレードオプションにより、詳細なレポート列が提供されます。最後に、Proberには、電磁干渉（EMI）保護やデータセキュリティなど、さまざまな高度な安全性とセキュリティ機能が含まれています。