中古 SEMICS Opus III #9276658 を販売中

SEMICS Opus IIIは、SEMICS International Corporationの最先端のプローバーで、電気/熱試験において比類のない性能を提供します。Opus IIIは、最新の半導体デバイスの効率的なテストを保証するために、デュアル絶縁型高電圧/大電流コンタクトモジュールを備えています。また、この技術は、高電圧/高電流の接触プロービングに起因するチップの破損や過熱の問題を防止します。内蔵された電動光学顕微鏡により、5軸の動きで簡単に実現できる極端なクローズアップビューなど、幅広い半導体の欠陥解析が可能です。この光学は、マクロおよびマイクロイメージング、ならびに放射状および垂直ズームの両方に使用できます。さらに、このプローバには、電流や電圧、インダクタンス、抵抗、容量など、幅広い半導体デバイス特性をテストするための多種多様なin-situプローブが含まれています。SEMICS Opus IIIは、高速かつ効率的なボードの読み込みとテストのための完全にコンピュータ化されたアーキテクチャを備えています。このユニットは、15インチのカラータッチスクリーンディスプレイとコンピュータ制御プローブを介してプログラムされています。利用可能な4GHzシングルクラスタ制御システムを利用して、複数の基板テストシーケンスを同時に実行できます。複数のボードをすばやくテストするこの機能により、正確さを損なうことなく、高いスループットのテストサンプルを保証します。基本的なプローバー機能に加えて、Opus IIIには他の多くの機能も含まれています。統合されたバスアナライザを使用すると、最大8台のバスを同時に自動解析することができます。高度な高速ビジョンベースのプローブプレースメントシステムと独自のボード部品アライメント技術により、従来の手動プロービングメソッドよりも迅速にプローブを自動配置できます。測定で可能な限り最高の精度を確保するために、自己誘発誤差を低減するために、ユニットは絶えず温度補償されます。また、SEMICS Opus IIIは複数のボードを並べてテストすることができるため、同一のボードの測定を実行し、さらに精度を比較することができます。さらに、Proberの自動補償機能の革新的なアルゴリズムにより、外部要因による測定の矛盾を排除します。Opus IIIは、ボード分析とテストのための最も要求の厳しい要件を満たすように設計された強力で精密なプローバです。SEMICS Opus IIIは、幅広い機能と高性能機能を備えており、最も複雑な半導体ボードやデバイスの検査とテストに最適です。