中古 SEMICS Opus III #9251173 を販売中
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SEMICS Opus IIIは、半導体ウェハテストとプロービング用に設計された高性能プローバです。これは、ビジョンモジュール、信頼性モジュールなどのさまざまなコンポーネントの統合を可能にするモジュラー設計を備えています。プローバーは、試験構造のプロービングや電気試験に適しており、効率的な試験と信頼性の高いデータ収集が可能です。Opus III proberは、測定ヘッドと制御ユニットの2つの主要な部分で構成されています。測定ヘッドは、自動化された3次元プロバーアーム、ウェーハ回転プラットフォーム、X-Yモーター式ステージ、およびウェーハを保持するための真空システムで構成されています。これらのコンポーネントは、小型デバイスの高精度測定を可能にします。制御装置は統合された性能テストおよび操作モジュールを含んでいます。このモジュールはプローバの動作を制御し、ウェーハから取得したデータを保存します。プローバは、高精度性能、測定の再現性、高い安定性、高速プロービングサイクルなど、幅広い機能を備えています。ウエハサイズと厚さの範囲、渦電流、抵抗、容量、電圧、電流、時間領域などのさまざまなプロービング技術をサポートするように設計されています。また、TSOP、 QFH、 PGA、ピングリッドアレイなど、さまざまなパッケージタイプやサイズにも対応しています。SEMICS Opus IIIは多くの便利な機能を提供します。オートステージングキャリブレーションシステムは、正確で一貫したウェーハの配置と測定を保証します。また、多方向モーションコントロールシステムにより、設定をすばやく変更し、パラメータを変更できます。さらに、埋め込みリレーモジュールは、さまざまな電圧要件をサポートし、複数のチャンネルプロービングを提供します。全体として、Opus IIIは、半導体ウェーハのテストとプロービングのための強力で信頼性の高いプローバです。速く、有効であるように設計されている、それはモジュラー設計を特色にし、いろいろ高性能機能が装備されています。さまざまなウエハの種類や試験構造を正確かつ迅速に測定することができ、信頼性の高いデータ収集により効率的な試験および分析が可能です。
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