中古 SEMICS Opus III #9209249 を販売中

SEMICS Opus IIIは、試験・検査機器に特化した半導体企業であるSEMICSが開発したプローバです。Proberは、ウェーハの電気特性をプローブして検証し、故障解析を行うために使用される自動試験および測定装置です。Opus IIIは、集積回路の性能に影響を与える可能性のあるさまざまな要因を特定して評価するために使用できます。このシステムには、人間工学に基づいて設計されたプローブステーションと、大型LCDタッチスクリーンインターフェイスを備えたコンパクトなコントローラーコンソールが含まれています。2Dまたは3Dスキャン、4チャネル電気試験、VGAまたはDVI外観検査の選択肢があります。3つの独立したZステージにより、高精度なXY位置決めと自動ウェーハレベリングが可能です。プローブステーションには2つのXY軸と回転ステージが装備されており、オプションの顕微鏡を使用してより正確な検査を行うことができます。SEMICS Opus IIIは、消費電力、漏れ電流、サンプリング電圧、タイミングなどの複数のパラメータを測定することができます。内蔵の統計解析ソフトウェアは、テスト結果を記録および保存する機能を備えた正確な測定データを保証します。また、ユーザーは保存されたデータにアクセスして、迅速な比較と品質管理を行うこともできます。このユニットは、さまざまなウエハサイズに対応でき、拡張可能なテストプラットフォームを備えた特定のアプリケーションにカスタマイズすることができます。さまざまなウェーハサイズに対応する試験治具を提供しているため、ほとんどのウェーハプロービングアプリケーションに適しています。また、高速コンベア装置により、効率的かつ正確なサンプル処理が可能です。安全性の面では、このツールは潜在的な安全上の危険からオペレータを保護するために設計された業界標準の安全資産を備えています。また、安全性を確保するために、火災検知と警報システムを内蔵しています。さらに、デュアルレーザースキャナーを設置し、機器同士の衝突を防ぎます。全体的に、Opus III proberは、ユーザーに正確で信頼性の高いテストデータを提供するように設計された高効率のテストおよび測定モデルです。直感的な設計と高度な機能により、ウェーハプロービングアプリケーションに費用対効果の高いソリューションを提供します。