中古 SEMICS Opus III #9189020 を販売中

SEMICS Opus IIIは、高いスループットと完全自動化された機能セットを備えた、集積回路の自動テスト用に設計されたプローバです。ジェモエトリックレイアウトから電気性能まで、VLSIデバイスの効果的なテストをサポートします。Opus IIIは、複数の入力または出力の並列アクセスのための高度なピン同期を備えており、多数のI/Oに同時にアクセスすることができます。これは、テスト時間とオーバーヘッドを最小限に抑えるマルチノードタイミング技術によってさらに強化されます。正確な検査を行うために、SEMICS Opus IIIには、異なるサイズのテストデバイスに同じアライメントを効率的に適用する2Dまたは3Dベクトル化ステージが含まれています。また、手動または自動で調整してデバイスのドリフトを補正し、異なるピッチとジオメトリで動作するアライメント制御システムを備えています。Opus IIIは、WiFi/Ethernet接続に比べて毎秒約200万件の高いデータ取得率を有し、テスト時間を最小限に抑えながら高速なテストサイクルを実現します。また、パラメータ測定、高速監視、伝送線測定、ソース測定計測など、複数の測定にも対応しています。プローバーには、圧力または真空を介して動作する真空ピン放出システムと、テストボード接続を介してドリルし、短縮と開口操作を実行するために使用することができるミニドリルシステムが装備されています。これらの機能に加えて、SEMICS Opus IIIは、内蔵の慣性モニタリング、サラウンドビュービジョン付きのアクティブ閉じ込め、自動チューブと保釈のたわみ保護、明確なインナーライン監視、衝撃吸収など、幅広い安全機能を提供します。これらの機能により、Opus IIIはVLSIデバイスの自動テストに最適です。初期段階の実験室試験と大量生産試験の両方に使用でき、最小限の労力と時間で正確で信頼性の高い結果を提供します。