中古 SEMICS Opus III #293644079 を販売中

SEMICS Opus IIIは、ウェーハの特性評価、ダイソート、欠陥解析アプリケーションに使用される総合的なプローバ装置です。ウェーハレベルの特性評価、チップレベルのイメージング、パッケージテスト、故障および欠陥のローカライズなど、幅広いアプリケーションに対応する高度な測定機能を提供します。Opus IIIは主な機能を通じて、効率的で費用対効果の高い自動化と生産歩留まりの最適化を提供します。システムは、プローバー、分析ユニット、診断ツールの3つの主要コンポーネントで構成されています。機械の中心にあるプローバーは、ウェーハステージ、ヘッド、スタイラスで構成されています。ウェーハステージは、測定中にウェーハを正確に配置するように設計されており、プローブヘッドには、物理的および電気的測定を実行するために使用できるプローブ針の配列が含まれています。このスタイラスにより、ユーザーはウェーハ上のさまざまなポイントを正確に測定できます。分析ツールを使用すると、グラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）を使用して自動測定を構成および実行できます。ウェーハレベルの画像を収集し、電気特性を取得し、さらなる診断と欠陥解像度のためのウェーハマップを作成するために使用されます。アセットは非常に細部を測定し、ウェーハ上の異なるポイント間を素早く移動することができ、時間と労力を節約できます。診断ツールは、オフライン障害解析に使用される画像またはソフトウェアをサポートします。計測データのプロットから事前定義された位置のスポットチェック、レポート作成まで、調査を容易にするためのいくつかの機能が含まれています。このツールでは、ダイ障害やパフォーマンス障害の原因となる欠陥を簡単に特定できます。高精度を確保するために、モデルは非常に精密なクローズドループサーボ制御装置で動作します。クローズドループ動作制御付きの精密ステージを備え、エンコードされたX、 Y、 Z軸を使用してウェーハの正確な位置決めを提供します。プローブヘッドは、精密な電気測定を提供し、自動的に校正するように設計されています。SEMICS Opus IIIは、最も信頼性の高いプロバーシステムの1つであり、半導体製造およびチップ試験プロセスに最適です。高度な精度と精度により、効率的で費用対効果の高い自動化と生産歩留まりの最適化を実現します。