中古 SEMICS OPUS III SL #9152235 を販売中
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ID: 9152235
ウェーハサイズ: 8"-12"
ヴィンテージ: 2013
Flat type hot prober, 8"-12"
First linear stage system
High accuracy / High performance
Cassette map with camera
GUI based on Windows
Soft contact: Low "K" device
Easy maintenance
VNC Support
Probe mark inspection
Main body:
System I/F: GPIB
Foup, 12"
Hot chuck, 12"
OCR Unit: SEMICS
Stage:
Card changer: Auto card changer: 350 mm
Head plate: Top head plate with auto tilt
Align camera:
Macro camera
Micro camera
Loader:
Arm: Arm 1, 2
Rotation unit: 360° Turn table
Elevator unit: 330 mm
Stroke AC servo motor
Wafer recognition unit: Camera
Fixed tray: Tray 1, 2
Inspection tray: Tray 1
Computer:
CPU: Pentium 4.2 GHz
Storage / Memory: 80 G HDD / 2G
Monitor: Touch screen, 15"
Operating system: Windows XP
Basic function:
PMI
PTPA
PTMA
PTPO
Needle polish
OCR
Manipulator:
Type: Hinge manipulator
Basic specification:
X, Y Stage:
Overall accuracy: ±1.5 μm
Probing area:
X: ±170 mm
Y: ±165 mm
Max speed: 300 mm/sec
Index time: 160 mm/sec / 10 mm
Resolution: 0.035 μm
Z Stage:
Withstand load: 300 kgf
Control accuracy: ±1 μm
Resolution: 0.18 μm
Full stroke: 30 mm
Speed: 50 mm/sec
Θ Axis:
Rotation range: ± 6º
Accuracy: ± 0.0002º
Resolution: 0.0025 μm
Chuck:
Planarity: 10 μm
Temp range: Ambient ~ +150°C
Temp accuracy: ≤ 100°C: 0.5°C
Air / Vacuum: External diameter tub: Φ 6 mm, 1 Line
Interface kit: ND3
Power:
Input power: 200~240 VAC
1 Phase (3 Wire)
Frequency: 50/60 Hz
Current: 25A
Air: 0.5 Mpa, 100 liter/min
Vacuum: -70Kpa ~ -100Kpa, 20 liter/min
2013 vintage.
SEMICS OPUS III SLは、PCB、 MCM、およびIC上の相互接続をテストするために特別に設計されたプローバです。超低質量、低慣性プローブヘッドを備えた高精度のプロービングを特徴とし、サンプルとの信頼性と再現性に優れた独自のマルチラチェットプローブアセンブリを備えています。また、カスタム設計された低騒音、低温、低振動スキャンステージを備えており、より包括的なプロービングソリューションを提供します。OPUS III SLは、PCB試験、個別部品のプロービング、表面実装アセンブリ試験、ウェハテスト、ICパッケージテスト、包装検査など、幅広い用途に適しています。このシステムは、サンプルとの信頼性と再現性の高い接触のための高精度なプロービングを備えています。低質量、低慣性プローブヘッドは、最適なプロービングショート回路とオープン回路用に設計されています。XおよびYの広い移動範囲および複数のラチェットアセンブリが付いている適用範囲が広いスキャン段階はあなたのサンプルの正確な、反復可能な調査を可能にします。Proberは広い領域を素早くスキャンするように設計されており、直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスとオートメーション用の組み込みスクリプト機能を備えたユーザーフレンドリーなインターフェイスを備えています。SEMICS OPUS III SLは、抵抗測定、静電容量測定、電流ソース測定、電力測定など、幅広い電気プロービング技術をサポートしています。また、接触バウンス軽減、低温スキャン、振動補償などのシステムレベルのフォールトトレランス機能も備えています。オプションの高解像度カメラにより、サンプルの高速かつ正確で反復可能な光学検査が可能です。OPUS III SLには構成可能なハードウェアがあり、お客様の特定のニーズに合わせてアップグレードすることができます。それはまたテスト据え付け品、調査カード、アダプター、ベンチ、および多くのようなさまざまな顧客の付属品を支えます。また、試験中に短絡、過電圧、過電流条件から保護するための包括的な機械的および電気的安全システムも備えています。SEMICS OPUS III SLは、幅広いプロービングソリューションを実現するための理想的なツールです。これは、迅速または複雑なテストセットアップのための高精度、信頼性、再現性、および費用対効果の高いプローバです。多種多様な機能とユーザーフレンドリーなインターフェースを備えたOPUS III SLは、プロービングプロジェクトを最大限に活用したいプロバイダーに最適です。
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