中古 SEMICS Opus III SH #9408057 を販売中

SEMICS Opus III SHは、ウェーハおよびダイの試験および測定用に設計された汎用性の高いプローバー装置です。このシステムは、容量性スキャンヘッドとOpus III SHプロバーユニットの2つのコアコンポーネントで構成されています。キャパシティブスキャンヘッドは、ウェハをスキャンしたり、ラスターパターンでダイして接点の向き、位置、分布を検出するロボットユニットです。スキャンデータはSEMICS Opus III SH proberに供給され、高解像度イメージセンサーを搭載し、自動および手動調整、ハイインテリジェンスウェーハのハンドリングとアライメント、完全な温度制御など、校正とテストのためのさまざまなオプションが装備されています。Opus III SH proberのテスト機能により、受動部品から高度な集積回路、マイクロプロセッサまで、現在の市場で幅広いデバイスを迅速かつ正確にテストおよびプロービングできます。これらの機能は、デバイスの自動ソートとアライメント、高速レーザースキャン、および適切なオプションの3D読み取りで完備されています。精度と精度は、正確な0。001"校正、独自の測定ポイント"、フォース距離"の読み取り、自動ビジョンの位置決めなど、幅広い工具制御オプションによってさらに向上します。このアセットの動的性能機能により、自動テストと正確な動的測定、および大容量のテストプロトコルが可能です。SEMICS Opus III SHは、MEMSやエネルギーに敏感な製品など、敏感な部品をテストおよび測定するための優れた選択肢です。特別に設計されたヘッドとユニットは、高度な振動キャンセル技術と、安全で効率的な操作を保証するための自動シャットオフを含む包括的な安全機能を備えています。この高度なプローバーモデルは、生産性を最大化し、ダウンタイムを最小限に抑えるのに最適です。その直感的なユーザーインターフェイスは、高速で直感的な操作を可能にし、その汎用性、拡張性、カスタマイズ性は、さまざまなプロジェクトや産業コンテキストに最適です。