中古 SEMICS Opus III SH #293804328 を販売中
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ID: 293804328
ウェーハサイズ: 8"-12"
ヴィンテージ: 2019
Prober, 8"-12"
Previously docked to WINTEST WTS-577 Tester
Direct docking
Ambient to hot temperature
CE Certified
No interface
Manipulator for Wintest tester
2019 vintage.
SEMICS Opus III SHは、半導体試験および先進的な研究用途向けに設計された最先端のプローバ装置です。この高性能プローバシステムは、半導体デバイスの性能と信頼性を評価するために不可欠な正確な制御および測定機能を提供します。Opus III SHモデルは、SEMICS Opusシリーズの一部であり、プロービング技術の優れた精度、速度、柔軟性で知られています。SEMICS Opus III SH Proberユニットの中核となるのは、半導体装置との高精度で再現性のある接触を可能にする高度なプロービングメカニズムです。このマシンは、X、 Y、 Z変換を含む複数の自由度を持つ電動ステージと、シータ回転を備えています。これにより、プローバはプローブチップをミクロンレベルの精度で配置することができ、DUTのボンドパッドまたはテストポイントとの最適な接触を保証します。Opus III SH proberツールの主な特徴の1つは、高速プロービング機能で、機能が複雑化しデータ速度が向上した最新の半導体デバイスのテストに不可欠です。このアセットには、高度な制御アルゴリズムとモーションフィードバックシステムが装備されており、幅広いデバイスの種類とテスト条件にわたって迅速かつ信頼性の高いプロービングを可能にします。この高速プロービング機能は、信号整合性とタイミングが重要なRFやマイクロ波コンポーネントなどの高周波デバイスのテストに特に役立ちます。プロービング速度に加えて、SEMICS Opus III SH proberモデルは優れた測定精度と再現性を提供します。この機器には、高解像度のポジションエンコーダと高度なキャリブレーションルーチンが装備されており、正確なプローブチップのアライメントとコンタクトフォース制御を保証します。この精度は、インピーダンス、静電容量、漏れ電流などのデバイス性能パラメータを信頼性と信頼性で評価するために不可欠です。Opus III SH proberシステムのもう一つの重要な特徴は、プロービングの柔軟性と適応性です。このユニットは、シングルチップ、マルチチップ、カンチレバースタイルのプローブなど、さまざまなDUTサイズとレイアウトに対応する幅広いプローブカード構成をサポートしています。さらに、プローバーは、垂直、水平、角度プロービングなどのさまざまなプロービング技術と互換性があり、さまざまなテスト要件や課題に対応しています。SEMICS Opus III SHプローバーマシンは、半導体試験環境への容易な使用と統合のためにも設計されています。このツールはユーザーフレンドリーなグラフィカルインターフェイスを備えており、オペレータは簡単にテストシーケンスをプログラムしたり、プローブ構成を設定したり、テスト結果をリアルタイムで監視したりできます。プローバには、ロボットウェーハローディングやアンロードなどの高度なオートメーション機能も搭載しており、テストプロセスを合理化し、全体的な生産性を向上させます。結論として、Opus III SHは、半導体試験および研究アプリケーションにおいて卓越した性能、精度、柔軟性を提供する最先端のプロバーアセットです。SEMICS Opus III SH proberモデルは、高速プロービング機能、正確な測定精度、プロービングの柔軟性、ユーザーフレンドリーなインターフェースを備えており、デバイスの性能と信頼性を効率的かつ効果的に評価するために必要なツールを半導体メーカーや研究者に提供します。
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